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PATENTSCOPE

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1. (WO2018085608) SYSTÈME MÉTALLOGRAPHIQUE À GRANDE VITESSE AUTOMATISÉ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2018/085608 N° de la demande internationale : PCT/US2017/059820
Date de publication : 11.05.2018 Date de dépôt international : 03.11.2017
CIB :
B25J 9/16 (2006.01) ,G01N 1/04 (2006.01) ,G01N 1/28 (2006.01) ,G01N 1/32 (2006.01) ,G01N 1/36 (2006.01) ,G01N 33/20 (2006.01) ,G06T 7/00 (2017.01)
Déposants : UES, INC.[US/US]; 4401 Dayton-Xenia Road Dayton, OH 45432, US
Inventeurs : ADIGA, Umesha P.S.; US
HOOPER, Daylond J.; US
JOSHI, Nina; US
BANKS, Daniel S.; US
GORANTLA, Murali K.; US
HOGENDOORN, Roland Adran; US
JENKINS, Elizabeth J.; US
ONDERA, Robert F.; US
Mandataire : METZCAR, Jeffrey C.; US
ELLEMAN, Steven, J.; US
ALLEN, William, R.; US
APPLEGATE, Gabriel; US
FAGAN, Kent, A.; US
Données relatives à la priorité :
15/343,90304.11.2016US
Titre (EN) AUTOMATED HIGH SPEED METALLOGRAPHIC SYSTEM
(FR) SYSTÈME MÉTALLOGRAPHIQUE À GRANDE VITESSE AUTOMATISÉ
Abrégé : front page image
(EN) An metallographic system comprising a programmable controller, a robotic arm, a specimen clamping or holding device, a sectioning saw, a mounting station, a polishing station, a specimen preparation station, and an analyzer for examining the specimen.
(FR) L'invention concerne un système métallographique comprenant un dispositif de commande programmable, un bras robotique, un dispositif de serrage ou de maintien d'échantillon, une scie de sectionnement, une station de montage, une station de polissage, une station de préparation d'échantillon, et un analyseur pour examiner l'échantillon.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)