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1. (WO2018085015) MONTURE COULISSANTE DE DOUILLE DE LIAISON AVEC PRÉCHARGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication :    WO/2018/085015    N° de la demande internationale :    PCT/US2017/056175
Date de publication : 11.05.2018 Date de dépôt international : 11.10.2017
CIB :
H01R 12/71 (2011.01), G01R 1/04 (2006.01), H01R 4/48 (2006.01), H01R 12/00 (2006.01), H01R 13/00 (2006.01), H01R 13/11 (2006.01)
Déposants : XCERRA CORPORATION [US/US]; 825 University Avenue Norwood, Massachusetts 02062 (US)
Inventeurs : MAGNUSON, Aaron; (US).
YAKUSHEV, Sergey; (US).
TREIBERGS, Valts; (US).
SIKORSKI, Dan; (US)
Mandataire : MOFFATT, Michael J.; (US)
Données relatives à la priorité :
15/341,368 02.11.2016 US
Titre (EN) LINK SOCKET SLIDING MOUNT WITH PRELOAD
(FR) MONTURE COULISSANTE DE DOUILLE DE LIAISON AVEC PRÉCHARGE
Abrégé : front page image
(EN)A test socket with a link and mount system is used to couple a device under test to a testing apparatus for quick and reliable testing of microchips post-production. The socket includes a pivoting link that connects to the DUT, an elastomer for biasing the link in a first preferred orientation, and a mount that operates as a fulcrum to rotate the link into engagement with the DUT. The mount includes projections that extend below a bottom surface of the socket, such that engagement of the mount with the test device at the projections translates the mount parallel to a diagonal support wall in the socket such that the mount is driven away from the bottom surface of the socket and also toward the elastomer. The socket includes a gap above the mount to allow for movement of the mount within the socket, eliminating the fixed arrangement and the non-compliant loads that accompany the engagement of the mount to the test apparatus. The mount projections carry a small preload that ensures successful contact with the test equipment without the risk of damaging the test equipment with rigid contact surfaces.
(FR)Une douille de test avec un système de liaison et de monture selon la présente invention est utilisée pour coupler un dispositif sous test à un appareil de test pour un test rapide et fiable de post-production de micropuces. La douille comprend une liaison pivotante qui se raccorde au DUT, un élastomère pour polariser la liaison dans une première orientation préférée, et une monture qui fonctionne comme un point d'appui pour faire tourner la liaison en prise avec le DUT. La monture comprend des saillies qui s'étendent en-dessous d'une surface inférieure de la douille, de telle sorte que la mise en prise de la monture avec le dispositif de test au niveau des saillies déplace la monture parallèlement à une paroi de support diagonale dans la douille de telle sorte que la monture est entraînée à distance de la surface inférieure de la douille et également vers l'élastomère. La douille comprend un espace au-dessus de la monture pour permettre le mouvement de la monture à l'intérieur de la douille, éliminant l'agencement fixe et les charges non conformes qui accompagnent la mise en prise de la monture avec l'appareil de test. Les saillies de la monture portent une petite précharge qui assure un contact réussi avec l'équipement de test sans risquer d'endommager l'équipement de test avec des surfaces de contact rigides.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)