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1. (WO2018084376) DISPOSITIF DE DÉTECTION DE DÉFAUT DE MODULE INTÉGRÉ DE CAMÉRA COMPACTE
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N° de publication : WO/2018/084376 N° de la demande internationale : PCT/KR2017/000113
Date de publication : 11.05.2018 Date de dépôt international : 04.01.2017
CIB :
G01N 21/88 (2006.01) ,G02B 27/28 (2006.01) ,G02B 26/10 (2006.01) ,G02B 27/30 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84
Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
88
Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
27
Autres systèmes optiques; Autres appareils optiques
28
pour polariser
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
26
Dispositifs ou systèmes optiques utilisant des éléments optiques mobiles ou déformables pour commander l'intensité, la couleur, la phase, la polarisation ou la direction de la lumière, p.ex. commutation, ouverture de porte, modulation
08
pour commander la direction de la lumière
10
Systèmes de balayage
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
27
Autres systèmes optiques; Autres appareils optiques
30
Collimateurs
Déposants :
을지대학교 산학협력단 EULJI UNIVERSITY INDUSTRY ACADEMY COOPERATION FOUNDATION [KR/KR]; 경기도 성남시 수정구 산성대로 553 553, Sanseong-daero, Sujeong-gu Seongnam-si Gyeonggi-do 13135, KR
Inventeurs :
정현우 JEONG, Hyun Woo; KR
오요한 O, Yo Han; KR
김순배 KIM, Soon Bae; KR
이종훈 LEE, Jong Hun; KR
이승훈 LEE, Seung Hoon; KR
Mandataire :
한윤호 HAN, Yun Ho; KR
Données relatives à la priorité :
10-2016-014734207.11.2016KR
Titre (EN) DEFECT DETECTION DEVICE OF COMPACT CAMERA INTEGRATED MODULE
(FR) DISPOSITIF DE DÉTECTION DE DÉFAUT DE MODULE INTÉGRÉ DE CAMÉRA COMPACTE
(KO) 소형카메라 통합모듈의 불량 검출 장치
Abrégé :
(EN) Provided is a defect detection device of a compact camera integrated module that detects a defect of a compact camera integration module by distributing a low-coherence beam or a high-speed wavelength variable beam to a sample stage for scanning the compact camera integrated module sample and a reference stage for acquiring image information of the sample, respectively, generating an interference signal using a sample signal and a reference signal that are respectively obtained from the sample stage and the reference stage, and converting the interference signal into an image and evaluating the image. As such, it is possible to quickly and efficiently detect whether or not a compact camera integrated module is defective.
(FR) L’invention concerne un dispositif de détection de défaut d’un module intégré de caméra compacte qui détecte un défaut d’un module d’intégration de caméra compacte en distribuant un faisceau à faible cohérence ou un faisceau à longueur d’onde variable à grande vitesse à un étage d’échantillon pour l’analyse de l’échantillon de module intégré de caméra compacte et à un étage de référence pour l’acquisition d’informations d’images de l’échantillon, respectivement, en générant un signal d’interférence au moyen d’un signal d’échantillon et d’un signal de référence qui sont obtenus respectivement de l’étage d’échantillon et de l’étage de référence, et en convertissant le signal d’interférence en une image et en évaluant l’image. Par conséquent, il est possible de détecter rapidement et efficacement si un module intégré de caméra compacte est défectueux ou non.
(KO) 저 결맞음 광선 또는 고속파장가변광선으로 소형카메라 통합모듈 샘플을 스캐닝하는 샘플단 및 샘플의 영상정보를 얻기 위한 기준단으로 각각 분배하여, 상기 샘플단 및 기준단으로부터 각각 수득된 샘플신호 및 기준신호를 이용하여 간섭신호를 생성하고, 상기 간섭신호를 영상으로 변환하여 평가함으로써 소형카메라 통합모듈의 불량을 검출하는 소형카메라 통합모듈의 불량 검출 장치를 제공한다. 따라서, 소형카메라 통합모듈의 불량 여부를 신속하고 효율적으로 검출할 수 있도록 한다.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)