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1. (WO2018083499) MICROSCOPIE IN SITU D'ÉCHANTILLON DÉFORMÉ EN ROTATION
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N° de publication : WO/2018/083499 N° de la demande internationale : PCT/GB2017/053337
Date de publication : 11.05.2018 Date de dépôt international : 07.11.2017
CIB :
H01J 37/20 (2006.01)
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
J
TUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
37
Tubes à décharge pourvus de moyens permettant l'introduction d'objets ou d'un matériau à exposer à la décharge, p.ex. pour y subir un examen ou un traitement
02
Détails
20
Moyens de support ou de mise en position de l'objet ou du matériau; Moyens de réglage de diaphragmes ou de lentilles associées au support
Déposants :
OXFORD UNIVERSITY INNOVATION LIMITED [GB/GB]; Buxton Court 3 West Way Oxford OX2 0JB, GB
Inventeurs :
HANSEN, Lars; GB
Mandataire :
DEHNS; St Bride's House 10 Salisbury Square London Greater London EC4Y 8JD, GB
Données relatives à la priorité :
1618755.107.11.2016GB
Titre (EN) IN SITU MICROSCOPY OF ROTATIONALLY DEFORMED SAMPLE
(FR) MICROSCOPIE IN SITU D'ÉCHANTILLON DÉFORMÉ EN ROTATION
Abrégé :
(EN) A method of observing a solid sample (100) with a microscope (300), comprising engaging a rotating portion (110) with a first part (104) of the sample (100), holding a second part (106) of the sample (100), and rotating the rotating portion (110) so as to rotate the first part (104) of the sample (100) relative to the second part (106) of the sample (100).
(FR) L'invention concerne un procédé d'observation d'un échantillon solide (100) avec un microscope (300), consistant à mettre en prise une portion rotative (110) avec une première partie (104) de l'échantillon (100), à maintenir une seconde partie (106) de l'échantillon (100), et faire tourner la portion rotative (110) de façon à faire tourner la première partie (104) de l'échantillon (100) par rapport à la seconde partie (106) de l'échantillon (100).
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)