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1. (WO2018083437) MESURE DE RÉSISTANCE ET COMMANDE DE COURANT
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N° de publication : WO/2018/083437 N° de la demande internationale : PCT/GB2017/052972
Date de publication : 11.05.2018 Date de dépôt international : 04.10.2017
CIB :
G01R 1/20 (2006.01) ,G01K 17/16 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
1
Détails ou dispositions des appareils des types couverts par les groupes G01R5/-G01R13/125
20
Modifications des éléments électriques fondamentaux en vue de leur utilisation dans des appareils de mesures électriques; Combinaisons structurelles de ces éléments avec ces appareils
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
K
MESURE DES TEMPÉRATURES; MESURE DES QUANTITÉS DE CHALEUR; ÉLÉMENTS THERMOSENSIBLES NON PRÉVUS AILLEURS
17
Mesure d'une quantité de chaleur
06
Mesure d'une quantité de chaleur transportée par des milieux en écoulement, p.ex. dans les systèmes de chauffage
08
basée sur la mesure d'une différence de température
10
entre un point d'entrée et un point de sortie, combinée avec la mesure du débit de l'écoulement d'un milieu
12
Indication directe du produit de l'écoulement par la différence de température
16
en utilisant des moyens électriques pour les deux mesures
Déposants :
EVONETIX LTD [GB/GB]; Suite 6 Science Village Chesterford Research Park Little Chesterford Essex CB10 1XL, GB
Inventeurs :
HAYES, Matthew James; GB
JUNCU, Vasile Dan; GB
Mandataire :
BERRYMAN, Robert; GB
Données relatives à la priorité :
1618398.001.11.2016GB
Titre (EN) RESISTANCE MEASUREMENT AND CURRENT CONTROL
(FR) MESURE DE RÉSISTANCE ET COMMANDE DE COURANT
Abrégé :
(EN) A technique for measuring the resistance of a resistive element (4) in the presence of a series diode (10) is provided. By supplying three different currents I1, l2, l3 and measuring corresponding voltages V1, V2, V3 across the resistive element (4) and diode (10), the voltages can be combined to at least partially eliminate an error in the measured resistance of the resistive element (4) caused by a voltage drop across the diode (10). A technique for current control in an array of resistive elements (60) is also described in which a column of resistive elements (60) is provided with two or more current sources (70, 72) switched so that while one current source (70) is providing current to the column line (66) corresponding to a selected resistive element (60), another current source (72) has its amount of current adjusted.
(FR) L'invention concerne une technique de mesure de la résistance d'un élément résistif (4) en présence d'une diode série (10). En fournissant trois courants différents I1, l2, l3 et en mesurant les tensions correspondantes V1, V2, V3 à travers l'élément résistif (4) et la diode (10), les tensions peuvent être combinées de manière à éliminer au moins partiellement une erreur dans la résistance mesurée de l'élément résistif (4) provoquée par une chute de tension à travers la diode (10). L'invention concerne également une technique de commande de courant dans un réseau d'éléments résistifs (60) dans lequel une colonne d'éléments résistifs (60) est pourvue de deux sources de courant ou plus (70, 72) commutées de telle sorte qu'une autre source de courant (70) fournit du courant à la ligne de colonne (66) correspondant à un élément résistif sélectionné (60), une autre source de courant (72) ayant sa quantité de courant réglée.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)