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1. (WO2018082136) SYSTÈME D'ANALYSE ET DE DÉTECTION DE PLAGE DE PLAN SPECTRAL INDUIT PAR LASER DE TYPE À BALAYAGE
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N° de publication :    WO/2018/082136    N° de la demande internationale :    PCT/CN2016/107129
Date de publication : 11.05.2018 Date de dépôt international : 24.11.2016
CIB :
G01N 21/71 (2006.01)
Déposants : ACADEMY OF OPTO-ELECTRONICS CHINESE ACADEMY OF SCIENCES [CN/CN]; No 9, Deng Zhuang South Road HaiDian District Beijing 100094 (CN)
Inventeurs : FAN, Zhongwei; (CN).
ZHAO, Tianzhuo; (CN).
LIAN, Fuqiang; (CN).
MO, Zeqiang; (CN).
LIN, Weiran; (CN).
LIU, Yang; (CN).
NIE, Shuzhen; (CN).
XIAO, Hong; (CN).
ZHANG, Hongbo; (CN)
Mandataire : BEI JING FORESTSONG PATENT AGENCY CO., LTD; Room 206B, 2th Floor, Sunshine Building No.112 Xizhimenwai Street, Xicheng District Beijing 100044 (CN)
Données relatives à la priorité :
2016109759416 07.11.2016 CN
Titre (EN) SCANNING TYPE LASER-INDUCED SPECTRAL PLANE RANGE ANALYSIS AND DETECTION SYSTEM
(FR) SYSTÈME D'ANALYSE ET DE DÉTECTION DE PLAGE DE PLAN SPECTRAL INDUIT PAR LASER DE TYPE À BALAYAGE
(ZH) 扫描式激光诱导光谱面范围分析检测系统
Abrégé : front page image
(EN)A scanning type laser-induced spectral plane range analysis and detection system. A laser emitter (6) is connected with an external laser-induced light source which generates laser; the laser is emitted by the laser emitter (6), so as to generate laser-induced plasma. An optically focusing device (2) converges induced and excited laser beams emitted by the laser emitter (6) onto a surface of a sample (9) to be detected. Then, a reflector (4) collects induced plasma scattered light signals in a broad spectral range of the sample (9) to be detected and converges same into a light receiving device (5). The light receiving device (5) converges induced plasma scattered lights into an optical fiber and transmits same into an external spectrometer; the external spectrometer performs light splitting on a spectrum formed of the plasma to obtain spectral intensity data of different wavelengths. Thus, the analysis and detection system can realize collection of spectrums in hundreds of nanometers wide range at a same optical axis, can bear Joule-level high-energy laser induction and is high in efficiency of 90% or more.
(FR)L'invention concerne un système d'analyse et de détection de plage de plan spectral induit par laser de type à balayage. Un émetteur laser (6) est connecté à une source de lumière externe induite par laser qui génère un laser ; le laser est émis par l'émetteur laser (6) de façon à générer un plasma induit par laser. Un dispositif de focalisation optique (2) fait converger des faisceaux laser induits et excités émis par l'émetteur laser (6) sur une surface d'un échantillon à détecter. Ensuite, un réflecteur (4) collecte des signaux de lumière diffusée par plasma induit dans une large plage spectrale de l'échantillon (9) à détecter et fait converger lesdits signaux de lumière dans un dispositif de réception de lumière (5). Le dispositif de réception de lumière (5) fait converger des lumières diffusées par plasma induit dans une fibre optique et transmet lesdites lumières dans un spectromètre externe ; le spectromètre externe effectue une division de lumière sur un spectre formé du plasma en vue d'obtenir des données d'intensité spectrale de différentes longueurs d'onde. Ainsi, le système d'analyse et de détection peut réaliser une collecte de spectres dans des centaines de nanomètres sur une large plage à un même axe optique, peut prendre en charge une induction laser à haute énergie de niveau Joule et présente un rendement élevé de 90 % ou plus.
(ZH)一种扫描式激光诱导光谱面范围分析检测系统,激光发射头(6)与外置的激光诱导光源连接,外置的激光诱导光源产生激光,经激光发射头(6)将激光发射,实现激光诱导等离子的发生。调焦光学装置(2)将激光发射头(6)发射的诱导激励的激光束汇聚到被测样品(9)表面上。之后,反射镜(4)采集被测样品(9)的宽光谱范围诱导等离子体散射光信号汇聚到收光装置(5)中。收光装置(5)将诱导等离子体散射光汇聚到光纤中,并传输给外置的光谱仪,外置的光谱仪对等离子体形成的光谱进行分光,获得不同波长光谱强度数据。因此,本分析检测系统同光学轴实现数百纳米宽范围光谱采集,能够承载焦耳级大能量激光诱导,效率高至90%以上。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)