Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales

1. (WO2018079636) DISPOSITIF D'AFFICHAGE À CRISTAUX LIQUIDES ET PROCÉDÉ D'INSPECTION DE DÉFAILLANCE

Pub. No.:    WO/2018/079636    International Application No.:    PCT/JP2017/038616
Publication Date: Fri May 04 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Fri Oct 27 01:59:59 CEST 2017
IPC: G02F 1/1368
G01R 31/00
G02F 1/13
G02F 1/133
G09G 3/20
G09G 3/36
Applicants: PANASONIC CORPORATION
パナソニック株式会社
PANASONIC LIQUID CRYSTAL DISPLAY CO., LTD.
パナソニック液晶ディスプレイ株式会社
Inventors: SUZUKI Jun
鈴木 潤
YOSHIZAWA Akihiro
吉澤 昭浩
NOZAKI Hideki
野崎 秀樹
ENDOU Satoshi
遠藤 聡
FUKUTA Kenji
福田 賢二
GOTO Hiroaki
後藤 洋昭
Title: DISPOSITIF D'AFFICHAGE À CRISTAUX LIQUIDES ET PROCÉDÉ D'INSPECTION DE DÉFAILLANCE
Abstract:
Selon la présente invention, un dispositif d'affichage à cristaux liquides possède un panneau à cristaux liquides de type à matrice active. Le dispositif d'affichage à cristaux liquides possède des lignes de source et des lignes de grille, des électrodes de pixel, des éléments de commutation, un pilote de source, un pilote de grille et un circuit d'inspection de défaillance. Les lignes de source et les lignes de grille sont disposées en une configuration en grille. Les électrodes de pixel sont disposées dans des régions de pixel définies par les lignes de source et les lignes de grille. Les éléments de commutation sont disposés de manière à correspondre aux électrodes de pixel. Le pilote de source commande les lignes de source. Le pilote de grille commande les lignes de grille. Le circuit d'inspection de défaillance est connecté aux lignes de source et aux lignes de grille, et inspecte les lignes de source et de grille. Le circuit d'inspection de défaillance possède des lignes de signal d'entrée de surveillance, des lignes de signal de sortie de surveillance, des circuits de détermination qui détectent les niveaux de tension des signaux de sortie provenant des lignes de signal de sortie de moniteur, et des circuits de comparaison de valeurs attendues qui comparent des sorties des circuits de détermination à des valeurs attendues.