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1. (WO2018079636) DISPOSITIF D'AFFICHAGE À CRISTAUX LIQUIDES ET PROCÉDÉ D'INSPECTION DE DÉFAILLANCE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication :    WO/2018/079636    N° de la demande internationale :    PCT/JP2017/038616
Date de publication : 03.05.2018 Date de dépôt international : 26.10.2017
CIB :
G02F 1/1368 (2006.01), G01R 31/00 (2006.01), G02F 1/13 (2006.01), G02F 1/133 (2006.01), G09G 3/20 (2006.01), G09G 3/36 (2006.01)
Déposants : PANASONIC CORPORATION [JP/JP]; 1006, Oaza Kadoma, Kadoma-shi, Osaka 5718501 (JP).
PANASONIC LIQUID CRYSTAL DISPLAY CO., LTD. [JP/JP]; 1-6, Megahida-cho, Shikama-ku, Himeji-shi, Hyogo 6728033 (JP)
Inventeurs : SUZUKI Jun; (--).
YOSHIZAWA Akihiro; (--).
NOZAKI Hideki; (--).
ENDOU Satoshi; (--).
FUKUTA Kenji; (--).
GOTO Hiroaki; (--)
Mandataire : TOKUDA Yoshiaki; (JP).
NISHIDA Hiroki; (JP)
Données relatives à la priorité :
2016-213406 31.10.2016 JP
2017-068124 30.03.2017 JP
2017-124558 26.06.2017 JP
Titre (EN) LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND FAILURE INSPECTION METHOD
(FR) DISPOSITIF D'AFFICHAGE À CRISTAUX LIQUIDES ET PROCÉDÉ D'INSPECTION DE DÉFAILLANCE
(JA) 液晶表示装置及び故障検査方法
Abrégé : front page image
(EN)This liquid crystal display device has an active matrix type liquid crystal panel. The liquid crystal display device has source lines and gate lines, pixel electrodes, switching elements, a source driver, a gate driver, and a failure inspection circuit. The source lines and the gate lines are disposed in a grid configuration. The pixel electrodes are disposed in pixel regions defined by the source lines and the gate lines. The switching elements are disposed so as to correspond to the pixel electrodes. The source driver drives the source lines. The gate driver drives the gate lines. The failure inspection circuit is connected to the source lines and the gate lines, and inspects the source lines and the gate lines. The failure inspection circuit has monitor input signal lines, monitor output signal lines, determination circuits that detect the voltage levels of output signals from the monitor output signal lines, and expected value comparison circuits that compare outputs from the determination circuits with expected values.
(FR)Selon la présente invention, un dispositif d'affichage à cristaux liquides possède un panneau à cristaux liquides de type à matrice active. Le dispositif d'affichage à cristaux liquides possède des lignes de source et des lignes de grille, des électrodes de pixel, des éléments de commutation, un pilote de source, un pilote de grille et un circuit d'inspection de défaillance. Les lignes de source et les lignes de grille sont disposées en une configuration en grille. Les électrodes de pixel sont disposées dans des régions de pixel définies par les lignes de source et les lignes de grille. Les éléments de commutation sont disposés de manière à correspondre aux électrodes de pixel. Le pilote de source commande les lignes de source. Le pilote de grille commande les lignes de grille. Le circuit d'inspection de défaillance est connecté aux lignes de source et aux lignes de grille, et inspecte les lignes de source et de grille. Le circuit d'inspection de défaillance possède des lignes de signal d'entrée de surveillance, des lignes de signal de sortie de surveillance, des circuits de détermination qui détectent les niveaux de tension des signaux de sortie provenant des lignes de signal de sortie de moniteur, et des circuits de comparaison de valeurs attendues qui comparent des sorties des circuits de détermination à des valeurs attendues.
(JA)アクティブマトリクス方式の液晶パネルを有する液晶表示装置である。液晶表示装置は、ソース線及びゲート線と、画素電極と、スイッチング素子と、ソースドライバと、ゲートドライバと、故障検査回路と、を有する。ソース線及びゲート線は、格子状に配置される。画素電極は、ソース線及びゲート線によって区画された画素領域に配置される。スイッチング素子は、画素電極に対応して配置される。ソースドライバは、ソース線を駆動する。ゲートドライバは、ゲート線を駆動する。故障検査回路は、ソース線又はゲート線に接続され、ソース線又はゲート線の検査を行う。故障検査回路は、モニタ入力信号線と、モニタ出力信号線と、モニタ出力信号線からの出力信号の電圧レベルを検出する判定回路と、判定回路からの出力と期待値とを比較する期待値比較回路と、を有する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)