WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2018078999) SYSTÈME DE TEST FLUORESCENT, DISPOSITIF DE DIÉLECTROPHORÈSE ET PROCÉDÉ DE TEST MOLÉCULAIRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication :    WO/2018/078999    N° de la demande internationale :    PCT/JP2017/027991
Date de publication : 03.05.2018 Date de dépôt international : 02.08.2017
CIB :
G01N 21/64 (2006.01), G01N 21/78 (2006.01), G01N 27/00 (2006.01)
Déposants : SHARP KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 1, Takumi-cho, Sakai-ku, Sakai City, Osaka 5908522 (JP).
THE UNIVERSITY OF TOKYO [JP/JP]; 3-1, Hongo 7-chome, Bunkyo-ku, Tokyo 1138654 (JP)
Inventeurs : IIZUKA, Kunihiko; (--).
FUJIMOTO, Yoshihisa; (--).
MITSUNAKA, Takeshi; (--).
KIM, Soo-Hyeon; (JP).
FUJII,Teruo; (JP)
Mandataire : HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK; Daiwa Minamimorimachi Building, 2-6, Tenjinbashi 2-chome Kita, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300041 (JP)
Données relatives à la priorité :
2016-211119 27.10.2016 JP
2016-211120 27.10.2016 JP
2017-079251 12.04.2017 JP
Titre (EN) FLUORESCENT TESTING SYSTEM, DIELECTROPHORESIS DEVICE, AND MOLECULAR TESTING METHOD
(FR) SYSTÈME DE TEST FLUORESCENT, DISPOSITIF DE DIÉLECTROPHORÈSE ET PROCÉDÉ DE TEST MOLÉCULAIRE
(JA) 蛍光検査システム、誘電泳動デバイス及び分子検査方法
Abrégé : front page image
(EN)Provided are a fluorescent testing system, a dielectrophoresis device, and a molecular testing method that measure only a fluorescent light emitted from a test object without using an optical filter to separate an excitation light and the fluorescent light, and can prevent a reduction in the range of application for fluorescent light type. A fluorescent testing system (1) comprises: an excitation light source (23) that shines an excitation light (L1) on a test object (M) flowing through a microfluidic path (22); a silicon integrated circuit (10) that comprises a photon detection unit (13), said photon detection unit (13) detecting light using a photodiode (12); an electrode pair (16) for dielectrophoresis that produces an electric field (EF) in order to draw the test object (M) to above the photodiode (12) through dielectrophoresis; and a control unit (24) that causes the excitation light source (23) to shine the excitation light (L1) on the drawn test object (M), and causes the photon detection unit (13) to detect, after quenching of the excitation light (L1), a fluorescent light (L2) emitted from the test subject (M).
(FR)L'invention concerne un système de test fluorescent, un dispositif de diélectrophorèse, aini qu'un procédé de test moléculaire destiné à mesurer uniquement une lumière fluorescente émise par un objet à tester sans utiliser de filtre optique pour séparer une lumière d'excitation et la lumière fluorescente, et pouvant empêcher une réduction de la plage d'application pour un type de lumière fluorescente. Le système de test fluorescent (1) selon l'invention comprend : une source de lumière d'excitation (23) émettant une lumière d'excitation (L1) sur un objet de test (M) s'écoulant à travers un trajet microfluidique (22); un circuit intégré en silicium (10) comprenant une unité de détection de photons (13), ladite unité (13) détectant la lumière au moyen d'une photodiode (12); une paire d'électrodes (16) pour la diélectrophorèse, produisant un champ électrique (EF) afin d'attirer l'objet de test (M) au-dessus de la photodiode (12) par diélectrophorèse; et une unité de commande (24) entraînant l'émission par la source de lumière d'excitation (23) de la lumière d'excitation (L1) sur l'objet de test (M) attiré et entraînant la détection par l'unité de détection de photons (13), après l'extinction de la lumière d'excitation (L1), d'une lumière fluorescente (L2) émise par l'objet de test (M).
(JA)励起光と蛍光とを光学的なフィルタにより分離することなく検査対象から放出された蛍光のみを測定し、蛍光の種類の適用範囲が低減されるのを防止し得る蛍光検査システム、誘電泳動デバイス及び分子検査方法を提供する。蛍光検査システム(1)は、マイクロ流体路(22)を流れる検査対象(M)に励起光(L1)を照射する励起用光源(23)と、フォトダイオード(12)により光を検知する光子検知部(13)を備えたシリコン集積回路(10)と、フォトダイオード(12)上に検査対象(M)を誘電泳動により引き寄せるために電界(EF)を発生する誘電泳動用電極対(16)と、引き寄せた検査対象(M)に励起用光源(23)にて励起光(L1)を照射させ、検査対象(M)から放出される蛍光(L2)を励起光(L1)の消光後に、光子検知部(13)にて検知させる制御部(24)とを備えている。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)