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1. (WO2018078965) GABARIT D'ESSAI DE CONTRAINTE ET PROCÉDÉ ASSOCIÉ
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N° de publication : WO/2018/078965 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/025994
Date de publication : 03.05.2018 Date de dépôt international : 18.07.2017
CIB :
G01N 3/08 (2006.01)
Déposants : NIPPON STEEL & SUMITOMO METAL CORPORATION[JP/JP]; 6-1, Marunouchi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008071, JP
Inventeurs : KURODA, Koichi; JP
YANAGA, Daisaku; JP
SUZUKI, Yuhei; JP
Mandataire : BRIGHTAS IP ATTORNEYS; 2-5-10, Sonezaki, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300057, JP
Données relatives à la priorité :
2016-21329131.10.2016JP
Titre (EN) STRESS TEST JIG AND STRESS TEST METHOD
(FR) GABARIT D'ESSAI DE CONTRAINTE ET PROCÉDÉ ASSOCIÉ
(JA) 応力試験用治具および応力試験方法
Abrégé : front page image
(EN) A stress test jig 10 is provided with an upper cylinder 12, a lower cylinder 14, and a frame 16. The frame 16 has a housing space 16a, an upper through hole 16b, and a lower through hole 16c. A test piece 20 is disposed in the housing space 16a, the upper cylinder 12 is inserted into the upper through hole 16b, and the lower cylinder 14 is inserted into the lower through hole 16c. The upper cylinder 12 and the lower cylinder 14 fix the test piece 20 such that the test piece 20, the upper cylinder 12 and the lower cylinder 14 are positioned on the same axis.
(FR) Cette invention concerne un gabarit d'essai de contrainte 10 comprenant un cylindre supérieur 12, un cylindre inférieur 14, et un châssis 16. Le châssis 16 comporte un espace formant logement 16a, un trou traversant supérieur 16b, et un trou traversant inférieur 16c. Une pièce d'essai 20 est placée dans l'espace formant logement 16a, le cylindre supérieur 12 est inséré dans le trou traversant supérieur 16b, et le cylindre inférieur 14 dans le trou traversant inférieur 16c. Le cylindre supérieur 12 et le cylindre inférieur 14 immobilisent la pièce d'essai 20 de façon que la pièce d'essai 20, le cylindre supérieur 12 et le cylindre inférieur 14 soient placés sur le même axe.
(JA) 応力試験用治具10は、上側シリンダ12と、下側シリンダ14と、フレーム16とを備える。フレーム16は、収容空間16a、上側貫通孔16b、および下側貫通孔16cを有する。収容空間16aに試験片20が配置され、上側貫通孔16bに上側シリンダ12が挿入され、下側貫通孔16cに下側シリンダ14が挿入される。上側シリンダ12および下側シリンダ14は、試験片20、上側シリンダ12および下側シリンダ14が同軸上に位置するように、試験片20を固定する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)