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1. (WO2018067772) SYSTÈME ET PROCÉDÉ D'IDENTIFICATION D'ISOTOPE EN TEMPS RÉEL
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N° de publication : WO/2018/067772 N° de la demande internationale : PCT/US2017/055249
Date de publication : 12.04.2018 Date de dépôt international : 05.10.2017
CIB :
H01J 49/00 (2006.01)
Déposants : THERMO FINNIGAN LLC[US/US]; 355 River Oaks Parkway San Jose, CA 95134, US
Inventeurs : KRONEWITTER, Scott, R.; US
STEPHENSON, James, L.; US
YIP, Ping, F.; US
Mandataire : MCCARTHY, William, R. III; US
Données relatives à la priorité :
62/405,45207.10.2016US
Titre (EN) SYSTEM AND METHOD FOR REAL-TIME ISOTOPE IDENTIFICATION
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ D'IDENTIFICATION D'ISOTOPE EN TEMPS RÉEL
Abrégé : front page image
(EN) An embodiment of a method for real time material identification is described that comprises determining an approximate mass value for an unknown material from spectral information derived from mass spectral analysis of the unknown material; retrieving profile models that correspond to a known material from a data structure using the approximate mass value; fitting a sample profile for the unknown material from the spectral information to the profile models to generate a fit score for each fit, wherein the lowest fit score corresponds to the best fit; calculating a mass value from the best fitting profile model and the sample profile.
(FR) Un mode de réalisation d'un procédé d'identification de matériau en temps réel consiste à déterminer une valeur de masse approximative pour un matériau inconnu à partir d'informations spectrales dérivées d'une analyse spectrale de masse du matériau inconnu ; à récupérer des modèles de profil qui correspondent à un matériau connu à partir d'une structure de données à l'aide de la valeur de masse approximative ; à ajuster un profil d'échantillon du matériau inconnu à partir des informations spectrales sur les modèles de profil pour générer un score d'ajustement pour chaque ajustement, le score d'ajustement le plus bas correspondant au meilleur ajustement ; à calculer une valeur de masse à partir du meilleur modèle de profil d'ajustement et du profil d'échantillon.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)