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1. (WO2018067687) DISPOSITIF PASSIF PERMETTANT UN ÉCHANTILLONNAGE D'INTRUSION DE VAPEUR
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N° de publication : WO/2018/067687 N° de la demande internationale : PCT/US2017/055115
Date de publication : 12.04.2018 Date de dépôt international : 04.10.2017
CIB :
G01N 33/497 (2006.01) ,G01N 1/22 (2006.01) ,G01N 7/00 (2006.01) ,G01N 33/38 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
33
Recherche ou analyse des matériaux par des méthodes spécifiques non couvertes par les groupes G01N1/-G01N31/146
48
Matériau biologique, p.ex. sang, urine; Hémocytomètres
483
Analyse physique de matériau biologique
497
de matériau biologique gazeux, p.ex. de l'haleine
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
1
Echantillonnage; Préparation des éprouvettes pour la recherche
02
Dispositifs pour prélever des échantillons
22
à l'état gazeux
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
7
Analyse des matériaux en mesurant la pression ou le volume d'un gaz ou d'une vapeur
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
33
Recherche ou analyse des matériaux par des méthodes spécifiques non couvertes par les groupes G01N1/-G01N31/146
38
Béton; chaux; mortier; plâtre; briques; produits céramiques; verre
Déposants :
CH2M HILL, INC. [US/US]; 9191 South Jamaica Street Englewood, Colorado 80112, US
Inventeurs :
THOMPSON, Ben; US
NOVAK, Michael; US
NIEMET, Michael; US
Mandataire :
KANABER, Kerith; US
HATTENBCH, Brad J.; US
CORNELIO, Gina; US
CAPPS, R. Shane; US
IGNAT, Brian J.; US
MORRISON, Angela L.; US
HAEN, Shannon Lynch; US
RASMUSSEN, Michael; US
JONSEN, Matthew D.; US
GILLELAND, Justin; US
Données relatives à la priorité :
62/403,85704.10.2016US
Titre (EN) PASSIVE DEVICE FOR VAPOR INTRUSION SAMPLING
(FR) DISPOSITIF PASSIF PERMETTANT UN ÉCHANTILLONNAGE D'INTRUSION DE VAPEUR
Abrégé :
(EN) Disclosed herein is a passive vapor intrusion measurement device including a barrier layer having first and second major sides; an absorbent stack disposed on a first portion of the surface of the barrier layer first major side, the absorbent stack including a first absorbent layer, an optional second absorbent layer; and spacer layer(s) disposed between the first and second (if present) absorbent layer and the barrier layer; and an adhesive disposed on a second portion of the surface of the barrier layer first major side and transversely surrounding the absorbent stack. The device is applied to a substrate in need of vapor intrusion sampling. A method of vapor intrusion analysis includes individually collecting the first and second (if present) absorbent layers after a test period; analyzing the amount of an analyte the absorbent layer(s); and subtracting the amount of the analyte in the second absorbent layer (if present) from the amount of the analyte in the first absorbent layer.
(FR) La présente invention concerne un dispositif passif de mesure d'intrusion de vapeur comprenant une couche barrière ayant des premier et second côtés principaux ; un empilement absorbant disposé sur une première partie de la surface du premier côté principal de la couche barrière, l'empilement absorbant comprenant une première couche absorbante, une seconde couche absorbante facultative ; et une ou plusieurs couches d'espacement disposées entre les première et seconde couches absorbantes (si elles sont présentes) et la couche barrière ; et un adhésif disposé sur une seconde partie de la surface du premier côté principal de la couche barrière et entourant transversalement l'empilement absorbant. Le dispositif est appliqué à un substrat ayant besoin d'un échantillonnage d'intrusion de vapeur. Un procédé d'analyse d'intrusion de vapeur consiste à collecter individuellement les première et seconde couches absorbantes (si elles sont présentes) après une période de test ; à analyser la quantité d'un analyte dans la ou les couches absorbantes ; et à soustraire la quantité d'analyte dans la seconde couche absorbante (si elle est présente) de la quantité d'analyte dans la première couche absorbante.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)