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1. (WO2018067267) APPAREIL DE TEST
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N° de publication : WO/2018/067267 N° de la demande internationale : PCT/US2017/050695
Date de publication : 12.04.2018 Date de dépôt international : 08.09.2017
CIB :
G01R 31/317 (2006.01) ,G01R 31/28 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28
Essai de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317
Essai de circuits numériques
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28
Essai de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
Déposants :
TERADYNE, INC. [US/US]; 600 Riverpark Drive North Reading, Massachusetts 01864, US
Inventeurs :
SUTO, Anthony J.; US
WRINN, Joseph Francis; US
TOSCANO, John P.; US
ARENA, John Joseph; US
Mandataire :
PYSHER, Paul A.; US
AUGST, Alexander D.; US
BUTEAU, Kristen C.; US
CAHILL, John J.; US
HAULBROOK, William R.; US
HOFFMAN-LUCA, Cassandra Gianna; US
JARRELL, Brenda Herschbach; US
KLEIN, Daniel A.; US
LI, Xiaodong; US
LYON, Charles E.; US
MEDINA, Rolando; US
MONROE, Margo R.; US
NGUYEN, Suzanne P.; US
PACE, Nicholas J.; US
REARICK, John P.; US
REESE, Brian E.; US
ROHLFS, Elizabeth M.; US
SAHR, Robert N.; US
SCHONEWALD, Stephanie L.; US
SHAIKH, Nishat A.; US
SHINALL, Michael A.; US
SHORE, David E.; US
SMITH, Maria C.; US
SUH, Su Kyung; US
VETTER, Michael L.; US
VRABLIK, Tracy L.; US
WANG, Gang; US
Données relatives à la priorité :
15/285,09004.10.2016US
Titre (EN) TEST FIXTURE
(FR) APPAREIL DE TEST
Abrégé :
(EN) An example test fixture, which interfaces a tester and a unit under test (UUT), includes the following: first electrical contacts that face the tester; second electrical contacts that face the UUT; a substrate made of sections of printed first material, with the first material being electrically non-conductive, and with the substrate being between the first electrical contacts and the second electrical contacts; and structures through the substrate, with the structures including sections of second material, with the second material being electrically conductive, and with at least one of the structures electrically connecting a first electrical contact and a second electrical contact.
(FR) Un exemple d'appareil de test, qui fait interface avec un testeur et un équipement à l'essai (UUT), comprend les éléments suivants : des premiers contacts électriques qui font face à l'UUT; des seconds contacts électriques qui font face à l'UUT; un substrat constitué de sections de premier matériau imprimé, le premier matériau n'étant pas électroconducteur, et le substrat se trouvant entre les premiers contacts électriques et les seconds contacts électriques; et des structures traversant le substrat, les structures comprenant des sections de second matériau, le second matériau étant électroconducteur, et au moins l'une des structures connectant électriquement un premier contact électrique et un second contact électrique.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)