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1. (WO2018065413) SYSTÈME DE MARQUAGE ET D'ANALYSE DE PIERRES PRÉCIEUSES
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N° de publication : WO/2018/065413 N° de la demande internationale : PCT/EP2017/075077
Date de publication : 12.04.2018 Date de dépôt international : 03.10.2017
CIB :
B23K 26/362 (2014.01) ,B23K 26/402 (2014.01) ,G01N 33/38 (2006.01) ,G01N 21/87 (2006.01) ,H01J 49/04 (2006.01) ,B23K 103/00 (2006.01)
[IPC code unknown for B23K 26/362][IPC code unknown for B23K 26/402]
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
33
Recherche ou analyse des matériaux par des méthodes spécifiques non couvertes par les groupes G01N1/-G01N31/146
38
Béton; chaux; mortier; plâtre; briques; produits céramiques; verre
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84
Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
87
Analyse des pierres précieuses
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
J
TUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
49
Spectromètres pour particules ou tubes séparateurs de particules
02
Détails
04
Dispositions pour introduire ou extraire les échantillons devant être analysés, p.ex. fermetures étanches au vide; Dispositions pour le réglage externe des composants électronoptiques ou ionoptiques
B TECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
23
MACHINES-OUTILS; TRAVAIL DES MÉTAUX NON PRÉVU AILLEURS
K
BRASAGE OU DÉBRASAGE; SOUDAGE; REVÊTEMENT OU PLACAGE PAR BRASAGE OU SOUDAGE; DÉCOUPAGE PAR CHAUFFAGE LOCALISÉ, p.ex. DÉCOUPAGE AU CHALUMEAU; TRAVAIL PAR RAYON LASER
103
Matières à braser, souder ou découper
Déposants :
SWISS GEMMOLOGICAL INSTITUTE - SSEF [CH/CH]; Falknerstrasse 9 4001 Basel, CH
Inventeurs :
WANG, Hao; CH
KRZEMNICKI, Michael S.; CH
Mandataire :
BOVARD AG; Optingenstrasse 16 3013 Bern, CH
Données relatives à la priorité :
16192271.104.10.2016EP
Titre (EN) SYSTEM FOR MARKING AND ANALYSING GEMSTONES
(FR) SYSTÈME DE MARQUAGE ET D'ANALYSE DE PIERRES PRÉCIEUSES
(DE) SYSTEM FOR MAKING AND ANALYSING GEMSTONES
Abrégé :
(EN) A method for marking (8) a gemstone (4) by an ablation process and for analysing the material composition of said gemstone suggested, wherein, the material that is set free by the ablation process is used for analysing the material composition of the gemstone (4). Furthermore, an appropriate system for carrying out the method is suggested.
(FR) L'invention concerne un procédé pour marquer (8) une pierre précieuse (4) par un processus d'ablation et analyser la composition de matière de ladite pierre précieuse, la matière qui est libérée par le processus d'ablation étant utilisée pour analyser la composition de matière de la pierre précieuse (4). L'invention concerne également un système approprié pour la mise en œuvre du procédé.
(DE) 24 Abstract A method for marking (8) a gemstone (4) by an ablation process and for analysing the material composition of said gemstone suggested, wherein, the material that is set free by the ablation process is used for analysing the material composition of the gemstone (4). Furthermore, an appropriate system 5 for carrying out the method is suggested. (Fig. 1)
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)