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1. (WO2018065394) BLINDAGE ACTIF DE DÉTECTION D'INTRUSION SUR UN CIRCUIT INTÉGRÉ
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N° de publication : WO/2018/065394 N° de la demande internationale : PCT/EP2017/075045
Date de publication : 12.04.2018 Date de dépôt international : 03.10.2017
CIB :
G06F 21/87 (2013.01) ,H01L 23/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
F
TRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
21
Dispositions de sécurité pour protéger les calculateurs, leurs composants, les programmes ou les données contre une activité non autorisée
70
Protection de composants spécifiques internes ou périphériques, où la protection d'un composant mène à la protection de tout le calculateur
86
Boîtiers fiables ou inviolables
87
par encapsulation, p.ex. de circuits intégrés
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
L
DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS; DISPOSITIFS ÉLECTRIQUES À L'ÉTAT SOLIDE NON PRÉVUS AILLEURS
23
Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
Déposants :
NAGRAVISION S.A. [CH/CH]; Route de Genève 22-24 1033 Cheseaux-sur-Lausanne, CH
Inventeurs :
MARTIN, Jean-Marie; FR
Mandataire :
KORENBERG, Alexander Tal; Kilburn & Strode LLP Lacon London 84 Theobalds Road London WC1X 8NL, GB
Données relatives à la priorité :
16192131.704.10.2016EP
Titre (EN) AN ACTIVE SHIELD FOR DETECTING AN INTRUSION ON AN INTEGRATED CIRCUIT
(FR) BLINDAGE ACTIF DE DÉTECTION D'INTRUSION SUR UN CIRCUIT INTÉGRÉ
Abrégé :
(EN) The present disclosure relates to a method and a device for detecting an attack on an integrated circuit. Attacks which are detectable using an active shield as described herein include physical and electrical contacting using a probe and modification of interconnect routing, including modification through the use of focused ion beam technology.
(FR) La présente invention concerne un procédé et un dispositif de détection d'une attaque sur un circuit intégré. Des attaques qui peuvent être détectées au moyen d'un blindage actif tel que décrit par l'invention comprennent une mise en contact physique et électrique au moyen d'une sonde et une modification de routage d'interconnexion, y compris une modification par l'utilisation d'une technologie de faisceau ionique focalisé.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)