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1. (WO2018065261) PROCÉDÉ D’ÉTALONNAGE ET DISPOSITIF D’ÉTALONNAGE POUR UN GROUPE DE RÉFLECTEURS SERVANT À LA CONCENTRATION DE RAYONNEMENT SOLAIRE SUR UN RÉCEPTEUR DE RAYONNEMENT

Pub. No.:    WO/2018/065261    International Application No.:    PCT/EP2017/074365
Publication Date: Fri Apr 13 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Wed Sep 27 01:59:59 CEST 2017
IPC: F24S 50/20
Applicants: FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG E. V.
Inventors: BERN, Gregor
SCHOETTL, Peter
VAN ROOYEN, De Wet
NITZ, Peter
HEIMSATH, Anna
Title: PROCÉDÉ D’ÉTALONNAGE ET DISPOSITIF D’ÉTALONNAGE POUR UN GROUPE DE RÉFLECTEURS SERVANT À LA CONCENTRATION DE RAYONNEMENT SOLAIRE SUR UN RÉCEPTEUR DE RAYONNEMENT
Abstract:
L'invention concerne un procédé d'étalonnage pour un groupe de réflecteurs servant à la concentration de rayonnement solaire sur un récepteur de rayonnement, le procédé comprenant les étapes consistant à A) orienter les réflecteurs afin d'exposer une surface d'étalonnage au moins partiellement à un rayonnement solaire réfléchi par les réflecteurs ; B) produire une variation de la répartition d'intensité du rayonnement incident sur la surface d'étalonnage en effectuant un modèle de mouvements au moyen de chaque réflecteur du groupe, le modèle de mouvements de chaque réflecteur se différenciant, par au moins un paramètre de modèle de mouvements prédéfini dans le groupe - fréquence du mouvement, - amplitude du mouvement, - position de phase du mouvement, - trajectoire du rayonnement solaire réfléchi par le réflecteur à l'intérieur de la surface d'étalonnage, des paramètres de modèle de mouvements des autres réflecteurs, ; C) acquérir des rangées de points d'image pour une pluralité de points locaux d'emplacements différents de la surface d'étalonnage au moyen d'au moins une caméra, chaque rangée de points d'image comprenant au moins cinq acquisitions de points d'images décalées dans le temps ; D) déterminer un spectre pour chaque rangée de points d'image par transformation des rangées de points d'image dans la gamme de fréquences ; E) associer un sous-ensemble de spectres aux réflecteurs en fonction du paramètre de modèle de mouvements du réflecteur ; F) déterminer au moins une position cible de réflexion pour chaque réflecteur en fonction d'au moins le sous-ensemble de spectres associé au réflecteur. L'invention concerne en outre un dispositif d'étalonnage pour un groupe de réflecteurs servant à la concentration de rayonnement solaire sur un récepteur de rayonnement.