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1. (WO2018063730) OPTIMISATION MULTIDIMENSIONNELLE DE PARAMÈTRES ÉLECTRIQUES POUR L'APPRENTISSAGE DE LA MÉMOIRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication :    WO/2018/063730    N° de la demande internationale :    PCT/US2017/049553
Date de publication : 05.04.2018 Date de dépôt international : 31.08.2017
CIB :
G11C 29/02 (2006.01), G11C 29/50 (2006.01)
Déposants : INTEL CORPORATION [US/US]; 2200 Mission College Boulevard Santa Clara, California 95054-1549 (US)
Inventeurs : UDUEBHO, Oseghale O.; (US).
NORMAN, Adam J.; (US)
Mandataire : GUPTA, Rishi; (US)
Données relatives à la priorité :
15/280,320 29.09.2016 US
Titre (EN) MULTI-DIMENSIONAL OPTIMIZATION OF ELECTRICAL PARAMETERS FOR MEMORY TRAINING
(FR) OPTIMISATION MULTIDIMENSIONNELLE DE PARAMÈTRES ÉLECTRIQUES POUR L'APPRENTISSAGE DE LA MÉMOIRE
Abrégé : front page image
(EN)Aspects of the embodiments are directed to systems, methods, and devices for generating a design of experiments (DOE) matrix, the DOE matrix comprising a set of possible combinations of values for a plurality of electrical parameters; iteratively applying each combination of values for the plurality of electrical parameters to one or more memory pins; determining a margin response for each combination of values; generating a prediction function based on a correlation of the margin response and each combination of values; and optimizing the plurality of electrical parameters based on the prediction function.
(FR)Selon certains modes de réalisation, l'invention concerne des systèmes, des procédés et des dispositifs destinés à générer une matrice de conception d'expériences (DOE), la matrice de DOE comprenant un ensemble de combinaisons possibles de valeurs pour une pluralité de paramètres électriques; à appliquer de manière itérative chaque combinaison de valeurs pour la pluralité de paramètres électriques à une ou plusieurs broches de mémoire; à déterminer une réponse de marge pour chaque combinaison de valeurs; à générer une fonction de prédiction sur la base d'une corrélation de la réponse de marge et de chaque combinaison de valeurs; et à optimiser la pluralité de paramètres électriques sur la base de la fonction de prédiction.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)