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1. (WO2018063432) MODIFICATION CHIMIQUE DE FILMS DE MASQUE DUR POUR AMÉLIORER LA GRAVURE ET PERMETTRE UNE ÉLIMINATION SÉLECTIVE
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N° de publication : WO/2018/063432 N° de la demande internationale : PCT/US2017/015185
Date de publication : 05.04.2018 Date de dépôt international : 26.01.2017
CIB :
H01L 21/033 (2006.01) ,H01L 21/311 (2006.01) ,H01L 21/02 (2006.01) ,H01L 21/768 (2006.01)
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
L
DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS; DISPOSITIFS ÉLECTRIQUES À L'ÉTAT SOLIDE NON PRÉVUS AILLEURS
21
Procédés ou appareils spécialement adaptés à la fabrication ou au traitement de dispositifs à semi-conducteurs ou de dispositifs à l'état solide, ou bien de leurs parties constitutives
02
Fabrication ou traitement des dispositifs à semi-conducteurs ou de leurs parties constitutives
027
Fabrication de masques sur des corps semi-conducteurs pour traitement photolithographique ultérieur, non prévue dans le groupe H01L21/18 ou H01L21/34187
033
comportant des couches inorganiques
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
L
DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS; DISPOSITIFS ÉLECTRIQUES À L'ÉTAT SOLIDE NON PRÉVUS AILLEURS
21
Procédés ou appareils spécialement adaptés à la fabrication ou au traitement de dispositifs à semi-conducteurs ou de dispositifs à l'état solide, ou bien de leurs parties constitutives
02
Fabrication ou traitement des dispositifs à semi-conducteurs ou de leurs parties constitutives
04
les dispositifs présentant au moins une barrière de potentiel ou une barrière de surface, p.ex. une jonction PN, une région d'appauvrissement, ou une région de concentration de porteurs de charges
18
les dispositifs ayant des corps semi-conducteurs comprenant des éléments du quatrième groupe de la Classification Périodique, ou des composés AIIIBV, avec ou sans impuretés, p.ex. des matériaux de dopage
30
Traitement des corps semi-conducteurs en utilisant des procédés ou des appareils non couverts par les groupes H01L21/20-H01L21/26162
31
pour former des couches isolantes en surface, p.ex. pour masquer ou en utilisant des techniques photolithographiques; Post-traitement de ces couches; Emploi de matériaux spécifiés pour ces couches
3105
Post-traitement
311
Gravure des couches isolantes
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
L
DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS; DISPOSITIFS ÉLECTRIQUES À L'ÉTAT SOLIDE NON PRÉVUS AILLEURS
21
Procédés ou appareils spécialement adaptés à la fabrication ou au traitement de dispositifs à semi-conducteurs ou de dispositifs à l'état solide, ou bien de leurs parties constitutives
02
Fabrication ou traitement des dispositifs à semi-conducteurs ou de leurs parties constitutives
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
L
DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS; DISPOSITIFS ÉLECTRIQUES À L'ÉTAT SOLIDE NON PRÉVUS AILLEURS
21
Procédés ou appareils spécialement adaptés à la fabrication ou au traitement de dispositifs à semi-conducteurs ou de dispositifs à l'état solide, ou bien de leurs parties constitutives
70
Fabrication ou traitement de dispositifs consistant en une pluralité de composants à l'état solide ou de circuits intégrés formés dans ou sur un substrat commun, ou de parties constitutives spécifiques de ceux-ci; Fabrication de dispositifs à circuit intégré ou de parties constitutives spécifiques de ceux-ci
71
Fabrication de parties spécifiques de dispositifs définis en H01L21/7089
768
Fixation d'interconnexions servant à conduire le courant entre des composants distincts à l'intérieur du dispositif
Déposants :
APPLIED MATERIALS, INC. [US/US]; 3050 Bowers Avenue Santa Clara, California 95054, US
Inventeurs :
KNAPP, David; US
HUANG, Simon; US
ANTHIS, Jeffrey W.; US
KRAUS, Philip Alan; US
THOMPSON, David; US
Mandataire :
BERNADICOU, Michael A.; US
BLANK, Eric S.; US
VINCENT, Lester J.; US
MALLIE, Michael J.; US
Données relatives à la priorité :
15/283,40001.10.2016US
Titre (EN) CHEMICAL MODIFICATION OF HARDMASK FILMS FOR ENHANCED ETCHING AND SELECTIVE REMOVAL
(FR) MODIFICATION CHIMIQUE DE FILMS DE MASQUE DUR POUR AMÉLIORER LA GRAVURE ET PERMETTRE UNE ÉLIMINATION SÉLECTIVE
Abrégé :
(EN) Embodiments include a method of processing a hardmask that includes forming an alloyed carbon hardmask over an underlying layer. In an embodiment, the alloyed carbon hardmask is alloyed with metallic-carbon fillers. The embodiment further includes patterning the alloyed carbon hardmask and transferring the pattern of the alloyed carbon hardmask into the underlying layer. According to an embodiment, the method may further include removing the metallic component of the metallic-carbon fillers from the alloyed carbon hardmask to form a porous carbon hardmask. Thereafter, the porous hardmask may be removed. In an embodiment, the metallic component of the metallic-carbon fillers may include flowing a processing gas into a chamber that volatizes the metallic component of the metallic-carbon fillers.
(FR) Les modes de réalisation de l'invention comprennent un procédé de traitement d'un masque dur qui consiste à former un masque dur en carbone allié sur une couche sous-jacente. Dans un mode de réalisation, le masque dur en carbone allié est allié à des charges métalliques-carbone. Le mode de réalisation consiste en outre à former un motif sur le masque dur en carbone allié et à transférer le motif du masque dur en carbone allié dans la couche sous-jacente. Selon un mode de réalisation, le procédé consiste en outre à éliminer le composant métallique des charges métalliques-carbone du masque dur en carbone allié pour former un masque dur en carbone poreux. Le masque dur poreux peut ensuite être éliminé. Dans un mode de réalisation, l'élimination du composant métallique des charges métalliques-carbone consiste à faire circuler un gaz de traitement dans une chambre pour volatiliser le composant métallique des charges métalliques-carbone.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)