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1. (WO2018063418) SYSTÈME DE TEST COMPACT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2018/063418 N° de la demande internationale : PCT/US2016/055780
Date de publication : 05.04.2018 Date de dépôt international : 06.10.2016
CIB :
G01R 31/3177 (2006.01) ,G06F 9/00 (2006.01) ,G06F 11/26 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28
Essai de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317
Essai de circuits numériques
3177
Essais de fonctionnement logique, p.ex. au moyen d'analyseurs logiques
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
F
TRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
9
Dispositions pour la commande par programme, p.ex. unité de commande
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
F
TRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
11
Détection d'erreurs; Correction d'erreurs; Contrôle de fonctionnement
22
Détection ou localisation du matériel d'ordinateur défectueux en effectuant des tests pendant les opérations d'attente ou pendant les temps morts, p.ex. essais de mise en route
26
Essais fonctionnels
Déposants :
XCERRA CORPORATION [US/US]; 825 University Avenue Norwood, Massachusetts 02062, US
Inventeurs :
BROWN, Benjamin; US
POFFENBERGER, Russel; US
Mandataire :
COLANDREO, Brian J.; US
ABRAMSON, Michael T.; US
PLACKER, Jeffrey T.; US
WHITTENBERGER, Mark H.; US
Données relatives à la priorité :
15/281,96630.09.2016US
Titre (EN) COMPACT TESTING SYSTEM
(FR) SYSTÈME DE TEST COMPACT
Abrégé :
(EN) An automated test platform includes a CPU subsystem housed in an enclosure and configured to execute an automated test process. A test head is housed in the enclosure and is configured to apply one or more test signals to a device under test. A power supply is housed in the enclosure and is configured to provide electrical power to the CPU subsystem and the test head.
(FR) L’invention concerne une plate-forme de test automatisée comprenant un sous-système de CPU logé dans une enceinte et conçu pour exécuter un processus de test automatisé. Une tête de test est logée dans l'enceinte et est conçue pour appliquer un ou plusieurs signaux de test à un dispositif soumis au test. Une alimentation électrique est logée dans l'enceinte et est conçue pour fournir de l'énergie électrique au sous-système de CPU et à la tête de test.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)