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1. (WO2018061901) APPAREIL D'OBSERVATION
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N° de publication : WO/2018/061901 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/033820
Date de publication : 05.04.2018 Date de dépôt international : 20.09.2017
CIB :
G02B 21/06 (2006.01) ,G01N 21/17 (2006.01) ,G01N 21/64 (2006.01) ,G02B 21/10 (2006.01) ,G02B 21/12 (2006.01) ,G02B 21/24 (2006.01) ,G02B 21/36 (2006.01)
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21
Microscopes
06
Moyens pour éclairer un échantillon
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
62
Systèmes dans lesquels le matériau analysé est excité de façon à ce qu'il émette de la lumière ou qu'il produise un changement de la longueur d'onde de la lumière incidente
63
excité optiquement
64
Fluorescence; Phosphorescence
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21
Microscopes
06
Moyens pour éclairer un échantillon
08
Condensateurs
10
donnant un éclairage sur fond noir
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21
Microscopes
06
Moyens pour éclairer un échantillon
08
Condensateurs
12
donnant un éclairage sur fond clair
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21
Microscopes
24
Structure du bâti ou statif
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21
Microscopes
36
aménagés pour la photographie ou la projection
Déposants :
オリンパス株式会社 OLYMPUS CORPORATION [JP/JP]; 東京都八王子市石川町2951番地 2951 Ishikawa-machi, Hachioji-shi, Tokyo 1928507, JP
Inventeurs :
水中 賢 MIZUNAKA, Masaru; JP
高橋 晋太郎 TAKAHASHI, Shintaro; JP
松下 朗 MATSUSHITA, Akira; JP
谷川 洋平 TANIKAWA, Yohei; JP
望月 剛 MOCHIZUKI, Tsuyoshi; JP
瀧本 真一 TAKIMOTO, Shinichi; JP
Mandataire :
上田 邦生 UEDA, Kunio; JP
柳 順一郎 YANAGI, Junichiro; JP
小栗 眞由美 OGURI, Mayumi; JP
竹内 邦彦 TAKEUCHI, Kuniyoshi; JP
Données relatives à la priorité :
2016-19428130.09.2016JP
Titre (EN) OBSERVATION APPARATUS
(FR) APPAREIL D'OBSERVATION
(JA) 観察装置
Abrégé :
(EN) In order to observe the shape and fluorescent image of an object such as a fluorescence-labeled cell without enlarging an apparatus, an observation apparatus 1 is provided with: a light source unit 5 that emits illumination light and excitation light from the lower side toward the upper side of a sample X; and a photographing optical system 6 that photographs, on the lower side of the sample X, fluorescent light generated in the sample X through irradiation with the excitation light emitted from the light source unit 5 and transmission light transmitted through the sample X upon reflection of the illumination light emitted from the light source unit 5 on the upper side of the sample X.
(FR) Afin d'observer la forme et l'image fluorescente d'un objet tel qu'une cellule marquée par fluorescence sans agrandir un appareil, un appareil d'observation 1 est pourvu: d'une unité de source de lumière qui émet une lumière d'éclairage et une lumière d'excitation depuis le côté inférieur vers le côté supérieur d'un échantillon X; et un système optique de photographie qui photographie, sur le côté inférieur de l'échantillon X, de la lumière fluorescente générée dans l'échantillon X par irradiation avec la lumière d'excitation émise par l'unité de source de lumière 5 et une lumière de transmission transmise à travers l'échantillon X lors de la réflexion de la lumière d'éclairage émise à partir de l'unité de source de lumière 5 sur le côté supérieur de l'échantillon X
(JA) 装置を大型化させることなく、蛍光標識された細胞等の被写体の形状および蛍光像を観察するために、観察装置1は、試料Xの下方から上方に向けて照明光および励起光を射出する光源部5と、該光源部5から射出された照明光が試料Xの上方で反射されて試料Xを透過した透過光および光源部5から射出された励起光の照射によって試料Xにおいて発生する蛍光を試料Xの下方において撮影する撮影光学系6とを備える。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)