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1. (WO2018061900) SYSTÈME DE MESURE TRIDIMENSIONNELLE ET PROCÉDÉ DE MESURE TRIDIMENSIONNELLE
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N° de publication : WO/2018/061900 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/033819
Date de publication : 05.04.2018 Date de dépôt international : 20.09.2017
CIB :
G01C 15/00 (2006.01) ,G01C 15/06 (2006.01)
Déposants : TOPRISE CO., LTD.[JP/JP]; 2-22-29, Kitakami, Akiha-ku, Niigata-shi, Niigata 9560861, JP
Inventeurs : OTAKI Mitsuji; JP
Mandataire : PATENTBOX IP LAW FIRM; MARUEI Bldg 6th fl., 2-19-9, Iwamotocho, Chiyoda-ku Tokyo 1010032, JP
Données relatives à la priorité :
2016-18910428.09.2016JP
Titre (EN) THREE-DIMENSIONAL MEASUREMENT SYSTEM AND THREE-DIMENSIONAL MEASUREMENT METHOD
(FR) SYSTÈME DE MESURE TRIDIMENSIONNELLE ET PROCÉDÉ DE MESURE TRIDIMENSIONNELLE
(JA) 三次元計測システム及び三次元計測方法
Abrégé : front page image
(EN) Provided is a three-dimensional measurement system that makes it possible to have error at an extremely small value. A three-dimensional measurement system 1 is provided with a three-dimensional laser scanner 2, and targets 3, 3 that are installed at at least two known coordinate points observed by the three-dimensional laser scanner 2, the targets 3, 3 being mounted on a leveling stand 4 having a circular bubble level 41 and a cylindrical bubble level 42. In addition, a three-dimensional measurement method using the three-dimensional measurement system 1 comprises a step for installing the targets 3, 3 so that the distance between the three-dimensional laser scanner 2 and each of the two targets 3, 3 will be from 10 to 120 m respectively, and so that internal angle formed by the three-dimensional laser scanner 2 and each of the two targets 3, 3 will be from 30° to 150°respectively.
(FR) L'invention concerne un système de mesure tridimensionnelle qui permet d'avoir une erreur à une valeur extrêmement faible. Un système de mesure tridimensionnelle (1) est pourvu d'un scanner laser tridimensionnel (2), et de cibles (3, 3) qui sont installées au niveau d'au moins deux points de coordonnées connus observés par le scanner laser tridimensionnel (2), les cibles (3, 3) étant montées sur un support de mise à niveau (4) ayant un niveau à bulle circulaire (41) et un niveau à bulle cylindrique (42). De plus, un procédé de mesure tridimensionnelle utilisant le système de mesure tridimensionnelle (1) comprend une étape d'installation des cibles (3, 3) de sorte que la distance entre le scanner laser tridimensionnel (2) et chacune des deux cibles (3, 3) soit de 10 à 120 m respectivement, et de sorte que l'angle interne formé par le scanner laser tridimensionnel (2) et chacune des deux cibles (3, 3) soit de 30° à 150° respectivement.
(JA) 誤差を極めて小さい値とすることができる三次元計測システムを提供する。 三次元計測システム1は、三次元レーザスキャナ2と、三次元レーザスキャナ2によって観測される少なくとも2つの既知の座標点上に設置されるターゲット3、3であって、円形気泡管41と筒状気泡管42とを有する整準台4上に設置されるターゲット3、3と、を備える。さらに、三次元計測システム1を使用する三次元計測方法は、三次元レーザスキャナ2と2つのターゲット3、3の距離が、それぞれ10m以上120m以下となるように、かつ、三次元レーザスキャナ2と2つのターゲット3、3のなす内角が、それぞれ30度以上150度以下となるようにターゲット3、3を設置するステップを備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)