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1. (WO2018061900) SYSTÈME DE MESURE TRIDIMENSIONNELLE ET PROCÉDÉ DE MESURE TRIDIMENSIONNELLE

Pub. No.:    WO/2018/061900    International Application No.:    PCT/JP2017/033819
Publication Date: Fri Apr 06 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Thu Sep 21 01:59:59 CEST 2017
IPC: G01C 15/00
G01C 15/06
Applicants: TOPRISE CO., LTD.
株式会社トップライズ
Inventors: OTAKI Mitsuji
大滝 充司
Title: SYSTÈME DE MESURE TRIDIMENSIONNELLE ET PROCÉDÉ DE MESURE TRIDIMENSIONNELLE
Abstract:
L'invention concerne un système de mesure tridimensionnelle qui permet d'avoir une erreur à une valeur extrêmement faible. Un système de mesure tridimensionnelle (1) est pourvu d'un scanner laser tridimensionnel (2), et de cibles (3, 3) qui sont installées au niveau d'au moins deux points de coordonnées connus observés par le scanner laser tridimensionnel (2), les cibles (3, 3) étant montées sur un support de mise à niveau (4) ayant un niveau à bulle circulaire (41) et un niveau à bulle cylindrique (42). De plus, un procédé de mesure tridimensionnelle utilisant le système de mesure tridimensionnelle (1) comprend une étape d'installation des cibles (3, 3) de sorte que la distance entre le scanner laser tridimensionnel (2) et chacune des deux cibles (3, 3) soit de 10 à 120 m respectivement, et de sorte que l'angle interne formé par le scanner laser tridimensionnel (2) et chacune des deux cibles (3, 3) soit de 30° à 150° respectivement.