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1. (WO2018061733) PROCÉDÉ D'INSPECTION ET PUCE D'INSPECTION
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N° de publication : WO/2018/061733 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/032726
Date de publication : 05.04.2018 Date de dépôt international : 11.09.2017
CIB :
G01N 21/78 (2006.01) ,G01N 33/53 (2006.01) ,G01N 33/543 (2006.01) ,G01N 37/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
75
Systèmes dans lesquels le matériau est soumis à une réaction chimique, le progrès ou le résultat de la réaction étant analysé
77
en observant l'effet sur un réactif chimique
78
produisant un changement de couleur
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
33
Recherche ou analyse des matériaux par des méthodes spécifiques non couvertes par les groupes G01N1/-G01N31/146
48
Matériau biologique, p.ex. sang, urine; Hémocytomètres
50
Analyse chimique de matériau biologique, p.ex. de sang, d'urine; Recherche ou analyse par des méthodes faisant intervenir la formation de liaisons biospécifiques par ligands; Recherche ou analyse immunologique
53
Essais immunologiques; Essais faisant intervenir la formation de liaisons biospécifiques; Matériaux à cet effet
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
33
Recherche ou analyse des matériaux par des méthodes spécifiques non couvertes par les groupes G01N1/-G01N31/146
48
Matériau biologique, p.ex. sang, urine; Hémocytomètres
50
Analyse chimique de matériau biologique, p.ex. de sang, d'urine; Recherche ou analyse par des méthodes faisant intervenir la formation de liaisons biospécifiques par ligands; Recherche ou analyse immunologique
53
Essais immunologiques; Essais faisant intervenir la formation de liaisons biospécifiques; Matériaux à cet effet
543
avec un support insoluble pour l'immobilisation de composés immunochimiques
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
37
Détails non couverts par les autres groupes de la présente sous-classe
Déposants :
富士フイルム株式会社 FUJIFILM CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区西麻布2丁目26番30号 26-30, Nishiazabu 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1068620, JP
Inventeurs :
伊藤 孝明 ITO, Takaaki; JP
Mandataire :
特許業務法人太陽国際特許事務所 TAIYO, NAKAJIMA & KATO; 東京都新宿区新宿4丁目3番17号 3-17, Shinjuku 4-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1600022, JP
Données relatives à la priorité :
2016-18981128.09.2016JP
Titre (EN) INSPECTION METHOD AND INSPECTION CHIP
(FR) PROCÉDÉ D'INSPECTION ET PUCE D'INSPECTION
(JA) 検査方法および検査チップ
Abrégé :
(EN) In the present invention, an inspection chip is used that has an inspection region comprising a pore group in which a capturing substance that specifically binds to a specific substance is immobilized and a correction region comprising a pore group in which the capturing substance is not immobilized. A sample solution for inspection is supplied to each pore, and the specific substance in the sample solution is made to bind to the capturing substance. A labeling solution containing a labeling substance is supplied and the labeling substance is made to bind to the specific substance. An inspection solution containing a chemiluminescent substrate is supplied, and in a state where the inspection solution is held in the pores, the amount of light emitted from the inspection region of the inspection chip and the amount of light emitted from the correction region are detected using a photodetector. The inspection region output of the photodetector corresponding to the amount of light emitted from the inspection region is corrected using the correction region output corresponding to the amount of light emitted from the correction region.
(FR) La présente invention concerne une puce d'inspection qui a une région d'inspection comprenant un groupe de pores dans lesquels une substance de capture qui se lie spécifiquement à une substance spécifique est immobilisée et une région de correction comprenant un groupe de pores dans lesquels la substance de capture n'est pas immobilisée. Une solution d'échantillon pour inspection est fournie à chaque pore, et la substance spécifique dans la solution d'échantillon est amenée à se lier à la substance de capture. Une solution de marquage contenant une substance de marquage est fournie et la substance de marquage est amenée à se lier à la substance spécifique. Une solution d'inspection contenant un substrat chimioluminescent est fournie, et dans un état dans lequel la solution d'inspection est maintenue dans les pores, la quantité de lumière émise par la région d'inspection de la puce d'inspection et la quantité de lumière émise par la région de correction sont détectées à l'aide d'un photodétecteur. La sortie de région d'inspection du photodétecteur correspondant à la quantité de lumière émise par la région d'inspection est corrigée à l'aide de la sortie de région de correction correspondant à la quantité de lumière émise par la région de correction.
(JA) 特定の物質と特異的に結合する捕捉物質が固定されている細孔群からなる検査領域と、捕捉物質が固定されていない細孔群からなる補正領域とを有する検査チップを用い、各細孔に検査に供する検体液を供給して検体液中の特定の物質を捕捉物質に結合させ、標識物質を含む標識溶液を供給して特定の物質に標識物質を結合させ、化学発光基質を含む検査用溶液を供給し、細孔に検査用溶液を留めた状態で、検査チップの検査領域からの発光量および補正領域からの発光量を光検出器で検出し、光検出器における、検査領域からの発光量に応じた検査領域出力を、補正領域からの発光量に応じた補正領域出力を用いて補正する。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)