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1. (WO2018061607) DISPOSITIF D'ANALYSE DE FLUORESCENCE X À DISPERSION EN LONGUEUR D'ONDE
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N° de publication : WO/2018/061607 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/031494
Date de publication : 05.04.2018 Date de dépôt international : 31.08.2017
CIB :
G01N 23/223 (2006.01) ,G01N 23/207 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules) non couvertes par le groupe G01N21/ ou G01N22/183
22
en mesurant l'émission secondaire
223
en irradiant l'échantillon avec des rayons X et en mesurant la fluorescence X
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
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Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules) non couvertes par le groupe G01N21/ ou G01N22/183
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en utilisant la diffraction de la radiation, p.ex. pour rechercher la structure cristalline, en utilisant la réflexion de la radiation
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par diffractométrie en utilisant des détecteurs, p.ex. en utilisant un cristal d'analyse ou un cristal à analyser en position centrale avec un ou plusieurs détecteurs mobiles disposés circonférentiellement
Déposants :
株式会社リガク RIGAKU CORPORATION [JP/JP]; 東京都昭島市松原町3丁目9番12号 9-12, Matsubara-cho 3-chome, Akishima-shi, Tokyo 1968666, JP
Inventeurs :
加藤 秀一 KATO, Shuichi; JP
山田 隆 YAMADA, Takashi; JP
片岡 由行 KATAOKA, Yoshiyuki; JP
Mandataire :
杉本 修司 SUGIMOTO, Shuji; JP
野田 雅士 NODA, Masashi; JP
堤 健郎 TSUTSUMI, Takeo; JP
Données relatives à la priorité :
2016-19435630.09.2016JP
Titre (EN) WAVELENGTH-DISPERSIVE X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE DE FLUORESCENCE X À DISPERSION EN LONGUEUR D'ONDE
(JA) 波長分散型蛍光X線分析装置
Abrégé :
(EN) A wavelength-dispersive X-ray fluorescence analysis device is provided with a single one-dimensional detector (10) comprising a plurality of detection elements (7) that are arranged linearly. The wavelength-dispersive X-ray fluorescence analysis device is also provided with a detector position change mechanism (11) for setting the position of the one-dimensional detector (10) to either a parallel position in which the arrangement direction of the detection elements (7) becomes parallel to a spectral angle direction in a spectral element (6) or to an intersecting position in which the arrangement direction of the detection elements (7) intersects the spectral angle direction. In the parallel position, a light-receiving surface of the one-dimensional detector (10) is positioned at the focal point of a focused secondary X-ray (42). In the intersecting position, a light-receiving slit (9) is arranged at the focal point of the focused secondary X-ray (42), and the light-receiving surface of the one-dimensional detector (10) is positioned closer than the light-receiving slit (9) to the direction of movement of the focused secondary X-ray (42) that is separated from the spectral element (6).
(FR) Un dispositif d'analyse de fluorescence X à dispersion en longueur d'onde est pourvu d'un unique détecteur unidimensionnel (10) comprenant une pluralité d'éléments de détection (7) qui sont agencés linéairement. Le dispositif d'analyse de fluorescence X à dispersion en longueur d'onde est également pourvu d'un mécanisme de changement de position de détecteur (11) pour paramétrer la position du détecteur unidimensionnel (10) afin qu'il se retrouve soit dans une position parallèle dans laquelle la direction d'agencement des éléments de détection (7) devient parallèle à la direction de l'angle spectral dans un élément spectral (6), soit dans une position d'intersection dans laquelle la direction d'agencement des éléments de détection (7) croise la direction de l'angle spectral. Dans la position parallèle, une surface de réception de lumière du détecteur unidimensionnel (10) est positionnée au point focal d'un rayon X secondaire focalisé (42). Dans la position d'intersection, une fente de réception de lumière (9) est agencée au point focal du rayon X secondaire focalisé (42), et la surface de réception de lumière du détecteur unidimensionnel (10) est positionnée plus près que la fente de réception de lumière (9) de la direction de déplacement du rayon X secondaire focalisé (42) qui est séparé de l'élément spectral (6).
(JA) 直線状に配列された複数の検出素子(7)を有する単一の一次元検出器(10)を備えた波長分散型蛍光X線分析装置であって、一次元検出器(10)の位置について、検出素子(7)の配列方向が分光素子(6)における分光角度方向に対して平行となる平行位置と交差する交差位置とのいずれかに設定するための検出器位置変更機構(11)を備え、平行位置では、一次元検出器(10)の受光面が集光2次X線(42)の焦点に位置し、交差位置では、受光スリット(9)が集光2次X線(42)の焦点に配置され、一次元検出器(10)の受光面は受光スリット(9)よりも分光素子(6)から離れた集光2次X線(42)の進行方向側に位置する。
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Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)