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1. (WO2018061561) PROCÉDÉ D’ESTIMATION DE PRÉSENCE DE COMPOSÉ MÉTALLIQUE, PROCÉDÉ D’EXPLORATION DE DÉPÔT MÉTALLIFÈRE, PROCÉDÉ DE DÉVELOPPEMENT DE RESSOURCE, PROCÉDÉ D’EXPLOITATION, PROCÉDÉ DE PRODUCTION DE SULFURE DE CUIVRE SECONDAIRE, PROCÉDÉ DE PRODUCTION DE RESSOURCE, PROCÉDÉ DE DÉVELOPPEMENT DE MINE, ET PROCÉDÉ DE FORAGE
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N° de publication :    WO/2018/061561    N° de la demande internationale :    PCT/JP2017/030598
Date de publication : 05.04.2018 Date de dépôt international : 25.08.2017
CIB :
G01V 8/10 (2006.01), G01N 21/27 (2006.01), G01N 33/24 (2006.01)
Déposants : JX NIPPON EXPLORATION AND DEVELOPMENT CO.,LTD. [JP/JP]; 9,Kanda-Nishikicho 1-chome,Chiyoda-ku, Tokyo 1010054 (JP).
JX NIPPON MINING & METALS CORPORATION [JP/JP]; 1-2,Otemachi 1-chome,Chiyoda-ku, Tokyo 1008164 (JP)
Inventeurs : SANGA,Tomoji; (JP).
MARUYAMA,Ryo; (JP)
Mandataire : AXIS PATENT INTERNATIONAL; Shimbashi i-mark Bldg., 6-2 Shimbashi 2-Chome, Minato-ku, Tokyo 1050004 (JP)
Données relatives à la priorité :
2016-192257 29.09.2016 JP
2016-220062 10.11.2016 JP
Titre (EN) METHOD FOR ESTIMATING PRESENCE OF METAL COMPOUND, METHOD FOR PROSPECTING METAL DEPOSIT, METHOD FOR DEVELOPING RESOURCES, METHOD FOR MINING, METHOD FOR PRODUCING SECONDARY COPPER SULFIDE, METHOD FOR PRODUCING RESOURCES, METHOD FOR DEVELOPING MINE, AND METHOD FOR BORING
(FR) PROCÉDÉ D’ESTIMATION DE PRÉSENCE DE COMPOSÉ MÉTALLIQUE, PROCÉDÉ D’EXPLORATION DE DÉPÔT MÉTALLIFÈRE, PROCÉDÉ DE DÉVELOPPEMENT DE RESSOURCE, PROCÉDÉ D’EXPLOITATION, PROCÉDÉ DE PRODUCTION DE SULFURE DE CUIVRE SECONDAIRE, PROCÉDÉ DE PRODUCTION DE RESSOURCE, PROCÉDÉ DE DÉVELOPPEMENT DE MINE, ET PROCÉDÉ DE FORAGE
(JA) 金属化合物の存在推定方法、金属鉱床の探鉱方法、資源開発方法、採鉱方法、二次硫化銅の産出方法、資源産出方法、鉱山開発方法およびボーリング方法
Abrégé : front page image
(EN)This method for estimating the presence of a metal compound is a method for estimating the location and/or the proportion at which a metal compound is present, wherein the method includes observing a reflectance spectrum at an observation site and obtaining an observation value of the reflectance spectrum within a wavelength range of 350-2500 nm, acquiring an observed reflectance spectrum in which the observation value is standardized, and comparing the observed reflectance spectrum with a compound reflectance spectrum of the metal compound.
(FR)Le procédé d’estimation de présence de composé métallique de l’invention est tel que la position de présence et/ou la proportion de présence d’un composé métallique est estimée. Ce procédé inclut : une étape au cours de laquelle un spectre de réflexion d’un point d’observation est observé à l’intérieur d’une région de longueur d’onde de 350nm à 2500nm, et une valeur d’observation de spectre de réflexion est obtenue ; une étape au cours de laquelle est obtenu un spectre de réflexion d’observation dans lequel ladite valeur d’observation est normalisée ; et une étape au cours de laquelle ledit spectre de réflexion d’observation est comparé avec un spectre de réflexion de composé appartenant audit composé métallique.
(JA)この発明の金属化合物の存在推定方法は、金属化合物の存在位置及び/又は存在割合を推定する方法であって、350nm~2500nmの波長領域内で、観測地点の反射スペクトルを観測して反射スペクトルの観測値を得ること、前記観測値を規格化した観測反射スペクトルを取得すること、並びに、前記観測反射スペクトルを、前記金属化合物が有する化合物反射スペクトルと比較することを含む。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)