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1. (WO2018061456) DISPOSITIF D'IMAGERIE À DIFFÉRENCE DE PHASE DE RAYONNEMENT
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N° de publication : WO/2018/061456 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/027566
Date de publication : 05.04.2018 Date de dépôt international : 28.07.2017
CIB :
A61B 6/00 (2006.01) ,G01N 23/20 (2006.01)
A NÉCESSITÉS COURANTES DE LA VIE
61
SCIENCES MÉDICALE OU VÉTÉRINAIRE; HYGIÈNE
B
DIAGNOSTIC; CHIRURGIE; IDENTIFICATION
6
Appareils pour diagnostic par radiations, p.ex. combinés avec un équipement de thérapie par radiations
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules) non couvertes par le groupe G01N21/ ou G01N22/183
20
en utilisant la diffraction de la radiation, p.ex. pour rechercher la structure cristalline, en utilisant la réflexion de la radiation
Déposants :
株式会社島津製作所 SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 京都府京都市中京区西ノ京桑原町1番地 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511, JP
国立大学法人大阪大学 OSAKA UNIVERSITY [JP/JP]; 大阪府吹田市山田丘1番1号 1-1, Yamadaoka, Suita-shi, Osaka 5650871, JP
Inventeurs :
佐野 哲 SANO Satoshi; JP
田邊 晃一 TANABE Koichi; JP
吉牟田 利典 YOSHIMUTA Toshinori; JP
木村 健士 KIMURA Kenji; JP
岸原 弘之 KISHIHARA Hiroyuki; JP
和田 幸久 WADA Yukihisa; JP
和泉 拓朗 IZUMI Takuro; JP
白井 太郎 SHIRAI Taro; JP
土岐 貴弘 DOKI Takahiro; JP
堀場 日明 HORIBA Akira; JP
志村 考功 SHIMURA Takayoshi; JP
渡部 平司 WATANABE Heiji; JP
細井 卓治 HOSOI Takuji; JP
Mandataire :
杉谷 勉 SUGITANI Tsutomu; JP
Données relatives à la priorité :
2016-18820827.09.2016JP
Titre (EN) RADIATION PHASE DIFFERENCE IMAGING DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'IMAGERIE À DIFFÉRENCE DE PHASE DE RAYONNEMENT
(JA) 放射線位相差撮影装置
Abrégé :
(EN) Provided is an X-ray phase difference imaging device whereby multiple imaging purposes can be addressed. This device is configured so that the arrangement pitch of slits pertaining to a multislit (3b) and the arrangement pitch of a phase shift part (5a) pertaining to a phase grating (5) can be changed. The positional relationship of the multislit (3b), the phase grating (5), and an FPD (4) is determined by the arrangement pitch of slits pertaining to the multislit (3b), the arrangement pitch of the phase shift part (5a) pertaining to the phase grating (5), and the arrangement pitch of a detection element pertaining to the FPD (4). Through the present invention, the positional relationship of the multislit (3b), the phase grating (5), and the FPD (4) can be changed by changing the arrangement pitch of the slits and the arrangement pitch of the phase shift part (5a).
(FR) L'invention concerne un dispositif d'imagerie à différence de phase de rayons X permettant de traiter de multiples objectifs d'imagerie. Ce dispositif est conçu de telle sorte que le pas d'agencement de fentes se rapportant à une multifente (3b) et le pas d'agencement d'une partie de déphasage (5a) appartenant à un réseau de phase (5) peuvent être modifiés. La relation de position de la multifente (3b), du réseau de phase (5) et d'un FPD (4) est déterminée par le pas d'agencement de fentes se rapportant à la multifente (3b), le pas d'agencement de la partie de déphasage (5a) se rapportant au réseau de phase (5), et le pas d'agencement d'un élément de détection se rapportant au FPD (4). Grâce à la présente invention, la relation de position de la multifente (3b), du réseau de phase (5) et du FPD (4) peut être modifiée en changeant le pas d'agencement des fentes et le pas d'agencement de la partie de déphasage (5a).
(JA) 多様な撮影目的に対応することができるX線位相差撮影装置を提供する。本発明の装置は、マルチスリット(3b)に係るスリットの配列ピッチと位相格子(5)に係る位相シフト部(5a)の配列ピッチとが変更可能になっている。マルチスリット(3b),位相格子(5),FPD(4)の位置関係は、マルチスリット(3b)に係るスリットの配列ピッチ、位相格子(5)に係る位相シフト部(5a)の配列ピッチ、およびFPD(4)に係る検出素子の配列ピッチで決定されてしまう。本発明によれば、このうちスリットの配列ピッチと位相シフト部(5a)の配列ピッチとを変更することにより、マルチスリット(3b),位相格子(5),FPD(4)の位置関係を変更することができる。
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Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)