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1. (WO2018061430) DISPOSITIF DE MESURE, PROCÉDÉ DE MESURE, PROGRAMME DE MESURE ET SUPPORT D'ENREGISTREMENT
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N° de publication : WO/2018/061430 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/026780
Date de publication : 05.04.2018 Date de dépôt international : 25.07.2017
CIB :
G01B 11/00 (2006.01) ,G01C 3/06 (2006.01) ,G06T 7/00 (2017.01) ,H04N 5/232 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
C
MESURE DES DISTANCES, DES NIVEAUX OU DES RELÈVEMENTS; GÉODÉSIE; NAVIGATION; INSTRUMENTS GYROSCOPIQUES; PHOTOGRAMMÉTRIE OU VIDÉOGRAMMÉTRIE
3
Mesure des distances dans la ligne de visée; Télémètres optiques
02
Détails
06
Utilisation de moyens électriques pour obtenir une indication finale
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
T
TRAITEMENT OU GÉNÉRATION DE DONNÉES D'IMAGE, EN GÉNÉRAL
7
Analyse d'image, p.ex. à partir d'un mappage binaire pour obtenir un mappage non binaire
H ÉLECTRICITÉ
04
TECHNIQUE DE LA COMMUNICATION ÉLECTRIQUE
N
TRANSMISSION D'IMAGES, p.ex. TÉLÉVISION
5
Détails des systèmes de télévision
222
Circuits de studio; Dispositifs de studio; Equipements de studio
225
Caméras de télévision
232
Dispositifs pour la commande des caméras de télévision, p.ex. commande à distance
Déposants :
シャープ株式会社 SHARP KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 大阪府堺市堺区匠町1番地 1, Takumi-cho, Sakai-ku, Sakai City, Osaka 5908522, JP
Inventeurs :
村山 大輔 MURAYAMA, Daisuke; --
徳井 圭 TOKUI, Kei; --
Mandataire :
特許業務法人HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK; 大阪府大阪市北区天神橋2丁目北2番6号 大和南森町ビル Daiwa Minamimorimachi Building, 2-6, Tenjinbashi 2-chome Kita, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300041, JP
Données relatives à la priorité :
2016-19455730.09.2016JP
Titre (EN) MEASUREMENT APPARATUS, MEASUREMENT METHOD, MEASUREMENT PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM
(FR) DISPOSITIF DE MESURE, PROCÉDÉ DE MESURE, PROGRAMME DE MESURE ET SUPPORT D'ENREGISTREMENT
(JA) 計測装置、計測方法、計測プログラム、及び記録媒体
Abrégé :
(EN) Provided are a measurement apparatus and a measurement method that are capable of suitably calculating reference information indicating the level of reliability of a measurement value obtained through a measurement. A measurement apparatus (1) that measures a measurement value according to a measurement point designated on an imaged image is provided with a reference information calculation unit (11) that calculates reference information indicating the level of reliability of the measurement value such that the level of reliability is set higher as the degree of focusing of the measurement point in the imaged image becomes higher.
(FR) L'invention porte sur un appareil de mesure et un procédé de mesure aptes à calculer de manière appropriée des informations de référence indiquant le niveau de fiabilité d'une valeur de mesure obtenue par l'intermédiaire d'une mesure. Un appareil de mesure (1) mesurant une valeur de mesure selon un point de mesure désigné sur une image prise est pourvu d'une unité de calcul d'informations de référence (11) qui calcule des informations de référence indiquant le niveau de fiabilité de la valeur de mesure, de façon que le niveau de fiabilité soit supérieur en même temps que le degré de focalisation du point de mesure dans l'image prise augmente.
(JA) 計測された計測値の信頼度を示す参考情報を好適に算出することができる計測装置及び計測方法を提供する。撮像画像上において指定された計測点に応じた計測値を計測する計測装置(1)は、計測値の信頼度を示す参考情報を、撮像画像における計測点の合焦の度合いが高いほど信頼度が高くなるように算出する参考情報算出部(11)を備えている。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)