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1. (WO2018060806) PROCÉDÉ D'ANALYSE D'INFORMATIONS SPATIALES ET TEMPORELLES D'ÉCHANTILLONS AU MOYEN D'UNE MICROSCOPIE OPTIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2018/060806 N° de la demande internationale : PCT/IB2017/055604
Date de publication : 05.04.2018 Date de dépôt international : 15.09.2017
CIB :
G06T 5/50 (2006.01)
Déposants : FONDAZIONE ISTITUTO ITALIANO DI TECNOLOGIA[IT/IT]; Via Morego 30 16163 Genova, IT
Inventeurs : DIFATO, Francesco; IT
MORONI, Monica; IT
PALAZZOLO, Gemma; IT
SOLOPERTO, Alessandro; IT
Mandataire : ARECCO, Andrea; IT
Données relatives à la priorité :
10201600009781129.09.2016IT
Titre (EN) METHOD FOR THE ANALYSIS OF SPATIAL AND TEMPORAL INFORMATION OF SAMPLES BY MEANS OF OPTICAL MICROSCOPY
(FR) PROCÉDÉ D'ANALYSE D'INFORMATIONS SPATIALES ET TEMPORELLES D'ÉCHANTILLONS AU MOYEN D'UNE MICROSCOPIE OPTIQUE
Abrégé : front page image
(EN) Method for the analysis of spatial and temporal information of samples by means of optical microscopy, comprising the following steps: a) choosing a field of view in a sample; b) scanning the sample in the axial direction by applying an electrical control signal having a first frequency to an electrically tunable liquid lens placed in the detection path, performing a sequential acquisition, at a first acquisition frequency which is higher than the first frequency of the electrical signal, of a stack of images placed on different in-focus planes; c) processing the stack of images for identifying the position of one or more regions of interest in the three-dimensional space under examination of the sample; d) scanning the sample in the axial direction by further applying the electrical signal having a second frequency to the tunable lens, performing a sequential acquisition, at a second acquisition frequency which is lower than the second frequency of the electrical signal, of a temporal series of images with extended depth of field; e) calculating the mean intensity of each region of interest for each image of the temporal series.
(FR) Procédé d'analyse d'informations spatiales et temporelles d'échantillons au moyen d'une microscopie optique, comprenant les étapes suivantes : a) choisir un champ de vision dans un échantillon; b) balayer l'échantillon dans la direction axiale par application d'un signal de commande électrique ayant une première fréquence à une lentille liquide accordable électriquement placée dans le trajet de détection, effectuer une acquisition séquentielle, au niveau d'une première fréquence d'acquisition qui est supérieure à la première fréquence du signal électrique, d'une pile d'images placées sur différents plans de mise au point; c) traiter la pile d'images pour identifier la position d'une ou de plusieurs régions d'intérêt dans l'espace tridimensionnel en cours d'examen de l'échantillon; d) balayer l'échantillon dans la direction axiale en appliquant en outre le signal électrique ayant une seconde fréquence à la lentille accordable, réaliser une acquisition séquentielle, au niveau d'une seconde fréquence d'acquisition qui est inférieure à la seconde fréquence du signal électrique, d'une série temporelle d'images avec une profondeur de champ étendue; e) calculer l'intensité moyenne de chaque région d'intérêt pour chaque image de la série temporelle.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : italien (IT)