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1. (WO2018060619) DISPOSITIF D'OBSERVATION D'UN ÉCHANTILLON ET PROCÉDÉ D'OBSERVATION D'UN ÉCHANTILLON
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication :    WO/2018/060619    N° de la demande internationale :    PCT/FR2017/052625
Date de publication : 05.04.2018 Date de dépôt international : 27.09.2017
CIB :
G03H 1/08 (2006.01), G01N 15/14 (2006.01), G03H 1/04 (2006.01)
Déposants : COMMISSARIAT À L'ÉNERGIE ATOMIQUE ET AUX ÉNERGIES ALTERNATIVES [FR/FR]; Bâtiment le Ponant D 25 rue Leblanc 75015 Paris (FR)
Inventeurs : ALLIER, Cédric; (FR).
BORDY, Thomas; (FR).
CIONI, Olivier; (FR).
HERVE, Lionel; (FR).
MOREL, Sophie; (FR)
Mandataire : LE GOALLER, Christophe; (FR).
DUPONT, Jean-Baptiste; (FR).
COLOMBO, Michel; (FR)
Données relatives à la priorité :
1659432 30.09.2016 FR
Titre (EN) DEVICE FOR OBSERVING A SAMPLE AND METHOD FOR OBSERVING A SAMPLE
(FR) DISPOSITIF D'OBSERVATION D'UN ÉCHANTILLON ET PROCÉDÉ D'OBSERVATION D'UN ÉCHANTILLON
Abrégé : front page image
(EN)The invention is a device allowing a sample (10) to be observed in a first mode, by lensless imaging using a first sensor (16). This first mode allows a first image to be obtained, on the basis of which a region of interest of the sample may be identified. The device then allows, via a relative movement (30), the region of interest to be analysed using a more precise second mode and in particular using an optical system (25) coupled to a second sensor (26).
(FR)L'invention est un dispositif permettant une observation d'un échantillon (10) selon une première modalité, par imagerie sans lentille à l'aide d'un premier capteur (16). Cette première modalité permet d'obtenir une première image, à partir de laquelle une région d'intérêt de l'échantillon peut être identifiée. Le dispositif permet alors, via un déplacement (30) relatif, une analyse de la région d'intérêt à l'aide d'une deuxième modalité, plus précise, notamment à l'aide d'un système optique (25) couplé à un deuxième capteur (26).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : français (FR)
Langue de dépôt : français (FR)