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1. (WO2018059667) SPECTROSCOPIE EN RÉFLEXION PRÉSENTANT UNE OPTIQUE D'AUTOFOCALISATION TANT DANS LE TRAJET D'ÉCLAIRAGE QUE DANS LE TRAJET DE DÉTECTION.
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N° de publication :    WO/2018/059667    N° de la demande internationale :    PCT/EP2016/072976
Date de publication : 05.04.2018 Date de dépôt international : 27.09.2016
CIB :
A61B 5/00 (2006.01)
Déposants : SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Werner-von-Siemens-Straße 1 80333 München (DE)
Inventeurs : ENGEL, Thomas; (DE).
FLEISCHER, Maximilian; (DE).
GIGLER, Alexander Michael; (DE).
PASTUSIAK, Remigiusz; (DE).
PAUST, Tobias; (DE).
SIMON, Elfriede; (DE).
STÜTZ, Evamaria; (DE)
Données relatives à la priorité :
Titre (DE) SPEKTROSKOPIE IN REFLEXION MIT AUTOFOKUSOPTIK SOWOHL IM BELEUCHTUNGSPFAD ALS AUCH IM DETEKTIONSPFAD
(EN) SPECTROSCOPY IN REFLECTION WITH AUTOFOCUS OPTICS IN BOTH THE ILLUMINATION PATH AND THE DETECTION PATH
(FR) SPECTROSCOPIE EN RÉFLEXION PRÉSENTANT UNE OPTIQUE D'AUTOFOCALISATION TANT DANS LE TRAJET D'ÉCLAIRAGE QUE DANS LE TRAJET DE DÉTECTION.
Abrégé : front page image
(DE)Die Erfindung betrifft eine Anordnung und ein Verfahren zur Messung von reflektierten Signalen, bei dem eine erste Einrichtung zur Abgabe von Licht auf eine Oberfläche und eine hierzu lateral versetzte zweite Einrichtung zur Detektion von der Oberfläche reflektierter Anteile des Lichts, die derart betrieben werden, dass die Beleuchtungseinheit eine erste Anordnung zur Manipulation des abgegebenen Lichts, und die Detektionseinrichtung eine zweite Anordnung zur Manipulation des reflektierten Lichts jeweils im Strahlgang des Lichts betreibt, wobei sie derart betrieben werden, dass das abgegebene und reflektierte Licht fokussiert werden kann.
(EN)The invention relates to an arrangement and to a method for measuring reflected signals, in which method a first device for emitting light to a surface and a second device, offset laterally thereto, for detecting portions of the light reflected from the surface, are operated in such a way that the illumination unit operates a first arrangement for manipulating the emitted light, and the detection device operates a second arrangement for manipulating the reflected light, in each case in the beam path of the light, wherein said first and second arrangements are operated such that the emitted and reflected light can be focused.
(FR)L'invention concerne un agencement et un procédé pour la mesure de signaux réfléchis, présentant un premier appareillage pour émettre de la lumière sur une surface et un deuxième appareillage latéralement décalé par rapport à celui-ci pour la détection de proportions de la lumière réfléchies par la surface, dont le fonctionnement est tel que l'unité d'éclairage fait fonctionner un premier agencement pour la manipulation de la lumière émise et l'appareillage de détection fait fonctionner un deuxième agencement pour la manipulation de la lumière réfléchie à chaque fois dans le trajet des rayons de lumière. Leur fonctionnement est tel que la lumière émise et la lumière réfléchie peuvent être focalisées.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)