Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter àObservations et contact
1. (WO2018059232) STRUCTURE ET PROCÉDÉ PERMETTANT DE TESTER UN AMPLIFICATEUR DE BLOCAGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2018/059232 N° de la demande internationale : PCT/CN2017/101493
Date de publication : 05.04.2018 Date de dépôt international : 13.09.2017
CIB :
G01R 31/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
Déposants :
深圳市太赫兹科技创新研究院 SHENZHEN INSTITUTE OF TERAHERTZ TECHNOLOGY AND INNOVATION [CN/CN]; 中国广东省深圳市 宝安区西乡宝田一路臣田工业区37栋二楼东侧 The East Part of 2nd Floor, No.37 Building, Chentian Industrial Zone, 1st Baotian Road Xixiang, Bao'an District Shenzhen, Guangdong 518102, CN
深圳市太赫兹系统设备有限公司 SHENZHEN TERAHERTZ SYSTEM EQUIPMENT CO., LTD. [CN/CN]; 中国广东省深圳市 宝安区西乡街道宝田一路臣田工业区37栋2楼东 The East Part of 2nd Floor, No.37 Building, Chentian Industrial Zone, 1st Baotian Road Xixiang Street, Bao'an District Shenzhen, Guangdong 518102, CN
Inventeurs :
邓仕发 DENG, Shifa; CN
潘奕 PAN, Yi; CN
李辰 LI, Chen; CN
丁庆 DING, Qing; CN
Mandataire :
广州华进联合专利商标代理有限公司 ADVANCE CHINA IP LAW OFFICE; 中国广东省广州市 天河区花城大道85号3901房 Room 3901, No. 85 Huacheng Avenue Tianhe District, Guangzhou Guangdong 510623, CN
Données relatives à la priorité :
201610860005.028.09.2016CN
Titre (EN) STRUCTURE AND METHOD FOR TESTING LOCK-IN AMPLIFIER
(FR) STRUCTURE ET PROCÉDÉ PERMETTANT DE TESTER UN AMPLIFICATEUR DE BLOCAGE
(ZH) 锁相放大器测试结构和方法
Abrégé :
(EN) A structure for testing a lock-in amplifier (300). A test signal generating device (100) of the structure comprises: a signal source module (120) used for generating a pure signal; a noise module (140) used for generating noise; an addition circuit (160) having two input ends connected respectively to the signal source module (120) and to the noise module (140) and used for superimposing the pure signal and the noise to produce a test signal for inputting into the lock-in amplifier (300); a first switch (K1) is provided on a branch connecting the signal source module (120) and the addition circuit (160), and a second switch (K2) is provided on a branch connecting the noise module (140) and the addition circuit (160). The structure for testing the lock-in amplifier (300), by controlling the switches, allows the test signal to be either pure noise or an aliased signal, thus testing the noise resistance capability of the lock-in amplifier (300) in different noise frequency band ranges and amplitude ranges, producing a noise distribution state of reference signals of nearby frequencies, and at the same time testing other parameters of the lock-in amplifier (300).
(FR) La présente invention concerne une structure permettant de tester un amplificateur de blocage (300). Un dispositif de génération de signal de test (100) de la structure comprend : un module de source de signal (120) utilisé pour générer un signal pur; un module de bruit (140) utilisé pour générer du bruit; un circuit d'addition (160) ayant deux extrémités d'entrée reliées respectivement au module de source de signal (120) et au module de bruit (140) et utilisées pour superposer le signal pur et le bruit afin de produire un signal de test pour entrer dans l'amplificateur de blocage (300); un premier commutateur (K1) est disposé sur une branche reliant le module de source de signal (120) et le circuit d'addition (160), et un second commutateur (K2) est disposé sur une branche reliant le module de bruit (140) et le circuit d'addition (160). La structure permettant de tester l'amplificateur de blocage (300), par commande des commutateurs, permet au signal de test d'être soit un bruit pur, soit un signal crénelé, ce qui permet de tester la capacité de résistance au bruit de l'amplificateur de blocage (300) dans différentes plages de bandes de fréquences de bruit et dans différentes plages d'amplitudes, de produire un état de distribution de bruit de signaux de référence de fréquences proches et, en même temps, de tester d'autres paramètres de l'amplificateur de blocage (300).
(ZH) 一种锁相放大器(300)测试结构,其测试信号发生装置(100)包括:信号源模块(120),用于产生纯信号;噪声模块(140),用于产生噪声;加法电路(160),两个输入端分别连接信号源模块(120)和噪声模块(140),用于将纯信号和噪声叠加获得测试信号以输入锁相放大器(300);其中,信号源模块(120)与加法电路(160)连接的支路上设有第一开关(K1),噪声模块(140)与加法电路(160)连接的支路上设有第二开关(K2)。锁相放大器(300)测试结构通过控制开关,能使得测试信号为纯噪声或者混叠信号,这样在不同的噪声频带范围及幅值范围内对锁相放大器(300)的抗噪声能力进行测试,得到频率很接近的参考信号的噪声分布情况,同时对锁相放大器(300)其他参数的测量。
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)