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1. (WO2018059135) PROCÉDÉ DE MESURE DES PARAMÈTRES D'UN FAISCEAU TÉRAHERTZ
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N° de publication : WO/2018/059135 N° de la demande internationale : PCT/CN2017/096805
Date de publication : 05.04.2018 Date de dépôt international : 10.08.2017
CIB :
G01J 11/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
J
MESURE DE L'INTENSITÉ, DE LA VITESSE, DU SPECTRE, DE LA POLARISATION, DE LA PHASE OU DES CARACTÉRISTIQUES D'IMPULSIONS DE LUMIÈRE INFRAROUGE, VISIBLE OU ULTRAVIOLETTE; COLORIMÉTRIE; PYROMÉTRIE DES RADIATIONS
11
Mesure des caractéristiques d'impulsions lumineuses individuelles ou de trains d'impulsions lumineuses
Déposants :
深圳市太赫兹科技创新研究院 SHENZHEN INSTITUTE OF TERAHERTZ TECHNOLOGY AND INNOVATION [CN/CN]; 中国广东省深圳市 宝安区西乡宝田一路臣田工业区37栋二楼东侧 The East Part of 2nd Floor, No.37 Building, Chentian Industrial Zone, 1st Baotian Road, Xixiang, Bao'an District Shenzhen, Guangdong 518102, CN
深圳市太赫兹系统设备有限公司 SHENZHEN TERAHERTZ SYSTEM EQUIPMENT CO., LTD. [CN/CN]; 中国广东省深圳市 宝安区西乡街道宝田一路臣田工业区37栋2楼东 The East Part of 2nd Floor, No.37 Building, Chentian Industrial Zone, 1st Baotian Road, Xixiang Street, Bao'an District Shenzhen, Guangdong 518102, CN
Inventeurs :
彭世昌 PENG, Shichang; CN
潘奕 PAN, Yi; CN
李辰 LI, Chen; CN
丁庆 DING, Qing; CN
Mandataire :
广州华进联合专利商标代理有限公司 ADVANCE CHINA IP LAW OFFICE; 中国广东省广州市 天河区花城大道85号3901房 Room 3901, No. 85 Huacheng Avenue, Tianhe District Guangzhou, Guangdong 510623, CN
Données relatives à la priorité :
201610857188.027.09.2016CN
Titre (EN) METHOD FOR MEASURING PARAMETERS OF TERAHERTZ BEAM
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE DES PARAMÈTRES D'UN FAISCEAU TÉRAHERTZ
(ZH) 测量太赫兹光束参数的方法
Abrégé :
(EN) A method for measuring parameters of a terahertz beam, comprising: obtaining a terahertz beam to be measured (S110); controlling a mask (12) to move in a focal plane of the terahertz beam and measuring the waist spot radius of the terahertz beam in the focal plane (S120); controlling the mask (12) to move from the focal plane of the terahertz beam to the propagation direction of the terahertz beam, recording a corresponding axis movement amount each time when the mask (12) moves, and measuring, at the axis movement amount, the radius of the terahertz beam in the plane where the mask (12) is located (S130); and calculating the focus depth when the radius of the terahertz beam measured at the axis movement amount is equal to (I) times as the waist spot radius (S140). According to the simple method for measuring parameters of a terahertz beam, the focus waist spot radius and the focus depth that affect the spatial resolution of terahertz spectral imaging can be quickly and conveniently measured. The measured waist spot radius and focus depth are high in precision and small in errors.
(FR) La présente invention concerne un procédé de mesure des paramètres d'un faisceau térahertz, le procédé comprenant les étapes consistant à: obtenir un faisceau térahertz à mesurer (S110); déplacer un masque (12) dans un plan focal du faisceau térahertz et mesurer le rayon de point de taille du faisceau térahertz dans le plan focal (S120); déplacer le masque (12) à partir du plan focal du faisceau térahertz vers la direction de propagation du faisceau térahertz, enregistrer une quantité de mouvement axial correspondante à chaque fois que le masque (12) se déplace, et mesurer, au niveau de la quantité de mouvement axial, le rayon du faisceau térahertz dans le plan où le masque (12) est situé (S130); et calculer la profondeur de focalisation quand le rayon du faisceau térahertz mesuré au niveau de la quantité de mouvement axial est égal à (I) fois le rayon de point de taille (S140). Selon ce procédé simple de mesure des paramètres d'un faisceau térahertz, le rayon de point de taille de focalisation et la profondeur de focalisation qui affectent la résolution spatiale d'une imagerie spectrale térahertz peuvent être mesurés rapidement et de manière pratique. Le rayon de point de taille et la profondeur de focalisation sont mesurés avec une précision élevée et peu d'erreurs.
(ZH) 一种测量太赫兹光束参数的方法,测量太赫兹光束参数的方法包括:获得待测太赫兹光束(S110);控制掩膜片(12)在太赫兹光束的焦平面内移动,并测得太赫兹光束在焦平面内的腰斑半径(S120);控制掩膜片(12)从太赫兹光束的焦平面沿太赫兹光束传播的方向移动,掩膜片(12)每移动一次记录对应的光轴移动量,在光轴移动量的位置处测量掩膜片(12)所在平面内的太赫兹光束的半径(S130);当在光轴移动量的位置处测量的太赫兹光束的半径等于腰斑半径的(I)倍时,计算聚焦深度(S140)。通过简单的测量太赫兹光束参数的方法,可以快捷方便的测量出影响太赫兹光谱成像空间分辨率的焦点腰斑半径以及聚焦深度,其测得腰斑半径及聚焦深度的精度高、误差小。
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Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)