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1. (WO2018058823) APPAREIL ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION D'ANOMALIE
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N° de publication :    WO/2018/058823    N° de la demande internationale :    PCT/CN2016/112474
Date de publication : 05.04.2018 Date de dépôt international : 27.12.2016
CIB :
G01R 31/00 (2006.01)
Déposants : SHENZHEN TCL DIGITAL TECHNOLOGY LTD. [CN/CN]; Room 201(Registered in Shenzhen Qianhai Commercial Secretariat Company),Block A Comprehensive Office Building Authority of Qianhai Shenzhen-Hong Kong Cooperation Zone, No.1 Liyumen Street, Qianwan Road 1, Qianhai Shenzhen-Hong Kong Cooperation Zone Shenzhen, Guangdong 518054 (CN)
Inventeurs : SHU, Xiangcheng; (CN)
Mandataire : CENFO INTELLECTUAL PROPERTY AGENCY; Room 210-212, 2/F, Building "Golden"(Block 11, Industrial Village of Former Nantou Cheng) Design Industrial Park, No 3838,Nanshan Road, Nanshan District Shenzhen, Guangdong 518052 (CN)
Données relatives à la priorité :
201610859681.6 28.09.2016 CN
Titre (EN) FAULT DETECTION APPARATUS AND METHOD
(FR) APPAREIL ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION D'ANOMALIE
(ZH) 故障检测装置及方法
Abrégé : front page image
(EN)A fault detection apparatus and method. The fault detection apparatus comprises: an optical detection module (10) used for detecting an optical signal output by a standby indicator lamp of an electronic device to be tested, converting the optical signal output by the standby indicator lamp into a corresponding voltage signal when the optical signal output by the standby indicator lamp is detected, and then outputting the voltage signal; a signal conversion module (20) used for converting the voltage signal into a digital level signal; a counting module (30) used for receiving the digital level signal and counting the number of receptions of the digital level signal; and a display module (40) used for displaying the number counted by the counting module. The fault detection apparatus can reliably test electronic devices in an extreme environment without manual detection, thereby saving labor costs and improving the efficiency of detecting faults of the electronic devices.
(FR)La présente invention concerne un appareil et un procédé de détection d'anomalie. L'appareil de détection d'anomalie comprend: un module de détection optique (10) servant à détecter un signal optique émis par une lampe indicatrice de veille d'un dispositif électronique à tester, convertir le signal optique émis par la lampe indicatrice de veille en un signal de tension correspondant quand le signal optique émis par la lampe indicatrice de veille est détecté, et sortir le signal de tension; un module de conversion de signal (20) servant à convertir le signal de tension en un signal de niveau numérique; un module de comptage (30) servant à recevoir le signal de niveau numérique et compter le nombre de réceptions du signal de niveau numérique; et un module d'affichage (40) servant à afficher le nombre compté par le module de comptage. L'appareil de détection d'anomalie peut tester de manière fiable des dispositifs électroniques dans un environnement extrême sans détection manuelle, ce qui permet d'économiser en coûts de main-d'oeuvre et d'améliorer l'efficacité de détection des anomalies des dispositifs électroniques.
(ZH)一种故障检测装置及方法,该故障检测装置包括:光检测模块(10),用于检测待测电子设备的待机指示灯输出的光信号,并在检测到待机指示灯输出的光信号时,将待机指示灯输出的光信号转换成对应的电压信号后输出;信号转换模块(20),用于将电压信号转换成数字电平信号;计数模块(30),用于接收数字电平信号,并对接收到的数字电平信号的次数进行计数;显示模块(40),用于显示计数模块所计数的数值。本故障检测装置代替了人工检测,实现了电子设备在极端环境下可靠试验,以节约人力成本,并提高了对电子设备故障检测的工作效率。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)