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1. (WO2018058336) CIRCUIT DE DÉTECTION CAPACITIF
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2018/058336 N° de la demande internationale : PCT/CN2016/100453
Date de publication : 05.04.2018 Date de dépôt international : 27.09.2016
CIB :
G06K 9/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
K
RECONNAISSANCE DES DONNÉES; PRÉSENTATION DES DONNÉES; SUPPORTS D'ENREGISTREMENT; MANIPULATION DES SUPPORTS D'ENREGISTREMENT
9
Méthodes ou dispositions pour la lecture ou la reconnaissance de caractères imprimés ou écrits ou pour la reconnaissance de formes, p.ex. d'empreintes digitales
Déposants :
深圳市汇顶科技股份有限公司 SHENZHEN GOODIX TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; 中国广东省深圳市 福田区保税区腾飞工业大厦B座13层 Floor 13, Phase B, Tengfei Industrial Building, Futian Free Trade Zone Shenzhen, Guangdong 518045, CN
Inventeurs :
梁佑安 LIANG, Yu An; CN
Mandataire :
上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) SHANGHAI CHENHAO INTELLECTUAL PROPERTY LAW FIRM GENERAL PARTNERSHIP; 中国上海市 黄浦区制造局路787号二幢202B室 Room 202B, Building 2, 787 Zhizaoju Road, Huangpu District Shanghai 200011, CN
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) CAPACITIVE SENSING CIRCUIT
(FR) CIRCUIT DE DÉTECTION CAPACITIF
(ZH) 电容感测电路
Abrégé :
(EN) A capacitive sensing circuit (10), comprising a sampling and holding circuit (SH) coupled to a contact capacitor (Cf); an integration circuit (100) coupled to the sampling and holding circuit (SH); a comparator (comp), comprising a first input coupled to the integration circuit (100); a second input for receiving a reference voltage (VREF); and a comparison output for outputting a comparison output voltage (VCMP); and a logic circuit (102) coupled to the comparison output, the logic circuit (102) outputting an integration time (TOUT) of the integration circuit when the comparison output voltage (VCMP) displays the transition of the comparator (comp), wherein the integration time (TOUT) is related to a capacitance value of the contact capacitor (Cf).
(FR) L'invention a trait à un circuit de détection capacitif (10), comprenant : un échantillonneur-bloqueur (SH) couplé à un condensateur à contact (Cf) ; un circuit à intégration (100) couplé à l'échantillonneur-bloqueur (SH) ; un comparateur (comp) ayant une première entrée couplée au circuit à intégration (100), une seconde entrée permettant de recevoir une tension de référence (VREF), et une sortie de comparaison servant à émettre une tension de sortie de comparaison (VCMP) ; et un circuit logique (102) couplé à la sortie de comparaison, ce circuit logique (102) émettant un temps d'intégration (TOUT) du circuit à intégration lorsque la tension de sortie de comparaison (VCMP) affiche la transition du comparateur (comp), le temps d'intégration (TOUT) étant lié à une valeur de capacité du condensateur à contact (Cf).
(ZH) 一种电容感测电路(10),包括一取样保持电路(SH),耦接于一接触电容(Cf);一积分电路(100),耦接于所述取样保持电路(SH);一比较器(comp),包含有一第一输入端,耦接于所述积分电路(100);一第二输入端,用来接收一参考电压(V REF);以及一比较输出端,用来输出一比较输出电压(V CMP);以及一逻辑电路(102),耦接于所述比较输出端,当所述比较输出电压(V CMP)显示所述比较器(comp)转态时,所述逻辑电路(102)输出所述积分电路(100)的一积分时间(T OUT);其中,所述积分时间(T OUT)相关于所述接触电容(Cf)的一电容值。
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Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)