WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2018058061) SYSTÈMES, PROCÉDÉS ET APPAREIL D'ÉCHANTILLONNAGE À PARTIR D'UN SERVEUR D'ÉCHANTILLONNAGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication :    WO/2018/058061    N° de la demande internationale :    PCT/US2017/053303
Date de publication : 29.03.2018 Date de dépôt international : 25.09.2017
CIB :
G06N 99/00 (2010.01), G06F 9/30 (2006.01)
Déposants : D-WAVE SYSTEMS INC. [CA/CA]; 3033 Beta Avenue Burnaby, British Columbia V5G 4M9 (CA)
Inventeurs : ROLFE, Jason, T.; (CA).
MACREADY, William, G.; (CA).
RANJBAR, Mani; (CA).
MOHAMMADI NEVISI, Mayssam; (CA)
Mandataire : ABRAMONTE, Frank; (US).
OBEIDAT, Baha, A.; (US).
KUMABE, Blake, K.; (US).
SOLTANI, Bobby, B.; (US).
SARGEANT, Brooke; (US).
QUIST, Brooke, W.; (US).
ROTH, Carol, J.; (US).
EIDT, Chandra, E.; (US).
O'BRIEN, Daniel; (US).
CARLSON, David, V.; (US).
STARK, Duncan; (US).
TARLETON, E., Russell; (US).
SUN, Eileen, S.; (US).
HARWOOD, Eric, A.; (US).
HAN, Hai; (US).
TALBERT, Hayley, J.; (US).
CARTER, James, J.; (US).
WHITE, James, A. D.; (US).
BARRETT, Jared, M.; (US).
PEPE, Jeffrey, C.; (US).
DANLEY, Jeffrey, E.; (US).
SAKOI, Jeffrey, M.; (US).
BAUNACH, Jeremiah, J.; (US).
KARLEN, John, R.; (US).
MORGAN, John, A.; (US).
WAKELEY, John, J.; (US).
COE, Justin, E.; (US).
HENCKEL, Karen, M.; (US).
HEFTER, Karl, A.; (US).
HERMANNS, Karl, R.; (US).
MORGAN, Kevan, L.; (US).
COSTANZA, Kevin, S.; (US).
LINFORD, Lorraine; (US).
COOPER, Michael, P.; (US).
RUSYN, Paul; (US).
LIN, Qing; (US).
HALLER, Rachel, A.; (US).
IANNUCCI, Robert; (US).
KOVELMAN, Robert, L.; (US).
WEBB, Samuel, E.; (US).
LEEK, Shoko, I.; (US).
ROSENMAN, Stephen, J.; (US).
ABEDI, Syed; (US).
SATAGAJ, Thomas, J.; (US).
BOLLER, Timothy, L.; (US).
LIGON, Toby, J.; (US).
FERRON, William, O., Jr.; (US)
Données relatives à la priorité :
62/399,683 26.09.2016 US
Titre (EN) SYSTEMS, METHODS AND APPARATUS FOR SAMPLING FROM A SAMPLING SERVER
(FR) SYSTÈMES, PROCÉDÉS ET APPAREIL D'ÉCHANTILLONNAGE À PARTIR D'UN SERVEUR D'ÉCHANTILLONNAGE
Abrégé : front page image
(EN)A digital processor runs a machine learning algorithm in parallel with a sampling server. The sampling sever may continuously or intermittently draw samples for the machine learning algorithm during execution of the machine learning algorithm, for example on a given problem. The sampling server may run in parallel (e.g., concurrently, overlapping, simultaneously) with a quantum processor to draw samples from the quantum processor.
(FR)Processeur numérique exécutant un algorithme d'apprentissage automatique en parallèle avec un serveur d'échantillonnage. Le serveur d'échantillonnage peut extraire en continu ou par intermittence des échantillons pour l'algorithme d'apprentissage automatique pendant l'exécution de l'algorithme d'apprentissage automatique, par exemple sur un problème donné. Le serveur d'échantillonnage peut fonctionner en parallèle (par exemple, simultanément, en se chevauchant, simultanément) avec un processeur quantique pour extraire des échantillons du processeur quantique.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)