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1. (WO2018055620) PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE D'UN DISPOSITIF DE MESURE DE DÉCALAGE DE MISE À NIVEAU INFORMATISÉ

Pub. No.:    WO/2018/055620    International Application No.:    PCT/IL2017/051065
Publication Date: Fri Mar 30 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Mon Sep 25 01:59:59 CEST 2017
IPC: G01C 9/24
G01V 13/00
Applicants: ISRAEL AEROSPACE INDUSTRIES LTD.
Inventors: YIFRACH, Aharon
ZUITLIN, Roey
Title: PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE D'UN DISPOSITIF DE MESURE DE DÉCALAGE DE MISE À NIVEAU INFORMATISÉ
Abstract:
La présente invention concerne un procédé d'étalonnage de dispositif de mesure de décalage de mise à niveau (LOM) pour calculer le décalage angulaire entre un plan parallèle au LOM et un plan de référence prédéterminé, le LOM comprenant un niveau à bulle rond doté d'une bulle et d'un processeur couplé à une image comprenant : la capture, par l'imageur, d'une pluralité d'images du niveau à bulle associées à une pluralité respective de décalages angulaires connus; le calcul par rapport à chaque image d'une distance de pixel à partir du centre de la bulle à un pixel décalé zéro prédéterminé, obtenant ainsi une pluralité de distances de pixel, chaque distance de pixel étant associée à un décalage angulaire connu; l'ajustement d'une fonction à une pluralité de paires de valeurs, chaque paire de valeurs comprenant une distance de pixel et son décalage angulaire connu associé; et le stockage de la fonction dans une mémoire.