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1. (WO2018053272) SPECTROMÈTRE À RAYONS X ET PROCÉDÉS D'UTILISATION
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N° de publication :    WO/2018/053272    N° de la demande internationale :    PCT/US2017/051789
Date de publication : 22.03.2018 Date de dépôt international : 15.09.2017
CIB :
G01N 23/223 (2006.01), G01N 23/20 (2006.01), G21K 5/00 (2006.01)
Déposants : UNIVERSITY OF WASHINGTON [US/US]; 4545 Roosevelt Way NE, Suite 400 Seattle, WA 98105 (US)
Inventeurs : SEIDLER, Gerald, Todd; (US).
HOIDN, Oliver; (US).
HOLDEN, William; (US)
Mandataire : KAMLER, Chad, A.; (US)
Données relatives à la priorité :
62/394,981 15.09.2016 US
Titre (EN) X-RAY SPECTROMETER AND METHODS FOR USE
(FR) SPECTROMÈTRE À RAYONS X ET PROCÉDÉS D'UTILISATION
Abrégé : front page image
(EN)A spectrometer includes a crystal analyzer having a radius of curvature that defines a Rowland circle, a sample stage configured to support a sample such that the sample is offset from the Rowland circle, an x-ray source configured to emit unfocused x-rays toward the sample stage, and a position-sensitive detector that is tangent to the Rowland circle. A method performed via a spectrometer includes emitting, via an x-ray source, unfocused x- rays toward a sample that is mounted on a sample stage such that the sample is offset from the Rowland Circle, thereby causing the sample to emit x-rays that impinge on the crystal analyzer or transmit a portion of the unfocused x-rays to impinge on the crystal analyzer; scattering, via the crystal analyzer, the x-rays that impinge on the crystal analyzer; and detecting the scattered x-rays via a position-sensitive detector that is tangent to the Rowland circle.
(FR)L'invention concerne un spectromètre comprenant un analyseur cristallographique ayant un rayon de courbure qui définit un cercle de Rowland, une platine à échantillon configurée pour supporter un échantillon de telle sorte que l'échantillon est décalé par rapport au cercle de Rowland, une source de rayons X configurée pour émettre des rayons X non focalisés vers la platine à échantillon, et un détecteur sensible à la position qui est tangent au cercle de Rowland. Un procédé mis en œuvre par le biais d'un spectromètre comprend l'émission, par une source de rayons X, de rayons X non focalisés vers un échantillon qui est monté sur une platine à échantillon de telle sorte que l'échantillon est décalé par rapport au cercle de Rowland, ce qui amène l'échantillon à émettre des rayons X qui viennent frapper l'analyseur cristallographique ou à transmettre une portion des rayons X non focalisés pour venir frapper l'analyseur cristallographique ; la diffusion, par le biais de l'analyseur de cristaux, des rayons X qui viennent frapper l'analyseur cristallographique ; et la détection des rayons X diffusés par le biais d'un détecteur sensible à la position qui est tangent au cercle de Rowland.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)