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1. (WO2018052433) GÉNÉRATION DE MODÈLES DE DÉFAILLANCE POUR ANALYTIQUE INTÉGRÉE ET RAISONNEMENT DIAGNOSTIQUE/PRONOSTIQUE

Pub. No.:    WO/2018/052433    International Application No.:    PCT/US2016/052025
Publication Date: Fri Mar 23 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Sat Sep 17 01:59:59 CEST 2016
IPC: G05B 23/02
Applicants: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
Inventors: ROSCA, Justinian
LAMPARTER, Steffen
Title: GÉNÉRATION DE MODÈLES DE DÉFAILLANCE POUR ANALYTIQUE INTÉGRÉE ET RAISONNEMENT DIAGNOSTIQUE/PRONOSTIQUE
Abstract:
L'invention concerne un procédé mis en œuvre par ordinateur qui permet de détecter des défaillances et des événements associés à un système comprenant la réception de données de capteur provenant d'une pluralité de capteurs associés au système. Un modèle de défaillance hiérarchique du système est construit au moyen (i) des données de capteur, (ii) des données de capteur de défaillance, (iii) de connaissances préalables concernant des variables et des états du système et (iii) d'une ou de plusieurs descriptions statistiques du système. Le modèle de défaillance comprend une pluralité de variables de diagnostic relatives au système et leurs relations. Un raisonnement probabiliste est effectué à des fins de diagnostic ou de pronostic sur le système au moyen du modèle de défaillance pour obtenir des connaissances associées à des défaillances potentielles ou réelles du système.