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1. (WO2018051679) DISPOSITIF D'AIDE À LA MESURE, SYSTÈME D'ENDOSCOPE, PROCESSEUR POUR SYSTÈME D'ENDOSCOPE, ET PROCÉDÉ D'AIDE À LA MESURE
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N° de publication :    WO/2018/051679    N° de la demande internationale :    PCT/JP2017/028644
Date de publication : 22.03.2018 Date de dépôt international : 07.08.2017
CIB :
A61B 1/00 (2006.01), A61B 1/045 (2006.01), G01B 11/02 (2006.01), G02B 3/00 (2006.01), G02B 23/24 (2006.01)
Déposants : FUJIFILM CORPORATION [JP/JP]; 26-30, Nishiazabu 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1068620 (JP)
Inventeurs : SONODA, Shinichiro; (JP).
TATSUTA, Takeichi; (JP)
Mandataire : MATSUURA, Kenzo; (JP)
Données relatives à la priorité :
2016-180808 15.09.2016 JP
Titre (EN) MEASUREMENT ASSISTANCE DEVICE, ENDOSCOPE SYSTEM, PROCESSOR FOR ENDOSCOPE SYSTEM, AND MEASUREMENT ASSISTANCE METHOD
(FR) DISPOSITIF D'AIDE À LA MESURE, SYSTÈME D'ENDOSCOPE, PROCESSEUR POUR SYSTÈME D'ENDOSCOPE, ET PROCÉDÉ D'AIDE À LA MESURE
(JA) 計測支援装置、内視鏡システム、内視鏡システムのプロセッサ、及び計測支援方法
Abrégé : front page image
(EN)The purpose of the present invention is to provide a measurement assistance device, an endoscope system, a processor for an endoscope system, and a measurement assistance method, whereby the size of a subject can be measured easily and with high precision. In the measurement assistance device pertaining to an embodiment of the present invention, the position of a spot formed by a measurement aid light is measured, information indicating the actual size of a subject is acquired on the basis of the measurement result, and a marker is generated and displayed, and there is therefore no need to gauge a distance, and measurement is easy. By appropriately setting the inclination angle of the measurement aid light, the measurement aid light can be prevented from being outside the field of view of an imaging optical system even when an observation distance is small, and the range of observation distances can be expanded. Furthermore, the optical axis of the measurement aid light has an inclination angle that is not zero degrees with respect to the optical axis of the imaging optical system when projected onto a plane including the optical axis of the imaging optical system, and high measurement precision and high sensitivity to change in the position of the spot with respect to a change in the observation distance are therefore obtained.
(FR)Le but de la présente invention est de fournir un dispositif d'aide à la mesure, un système d'endoscope, un processeur pour un système d'endoscope, et un procédé d'aide à la mesure, la taille d'un sujet pouvant être mesurée facilement et avec une précision élevée. Dans le dispositif d'aide à la mesure appartenant à un mode de réalisation de la présente invention, la position d'un point formé par une lumière d'aide à la mesure est mesurée, des informations indiquant la taille réelle d'un sujet sont acquises sur la base du résultat de mesure, et un marqueur est généré et affiché ; il n'est donc pas nécessaire de mesurer une distance, et la mesure est facile. En réglant de manière appropriée l'angle d'inclinaison de la lumière d'aide à la mesure, la lumière d'aide à la mesure peut être empêchée d'être à l'extérieur du champ de vision d'un système optique d'imagerie même lorsqu'une distance d'observation est petite, et la plage de distances d'observation peut être étendue. En outre, l'axe optique de la lumière d'aide à la mesure présente un angle d'inclinaison qui n'est pas égal à zéro degré par rapport à l'axe optique du système optique d'imagerie lorsqu'il est projeté sur un plan comprenant l'axe optique du système optique d'imagerie, et une précision de mesure élevée et une sensibilité élevée à un changement de la position du point par rapport à un changement de la distance d'observation sont ainsi obtenues.
(JA)被写体の大きさを容易かつ高精度に計測できる計測支援装置、内視鏡システム、内視鏡システムのプロセッサ、及び計測支援方法を提供することを目的とする。本発明の一の態様に係る計測支援装置では、計測補助光によるスポットの位置を計測し、計測結果に基づいて被写体の実寸サイズを示す情報を取得してマーカを生成及び表示するので、距離測定の必要がなく、計測が容易である。また、計測補助光の傾き角を適切に設定することにより観察距離が短い場合でも計測補助光が撮像光学系の視野から外れないようにすることができ、観察距離の範囲を広げることができる。さらに、計測補助光の光軸は撮像光学系の光軸を含む平面に射影した場合に撮像光学系の光軸に対し0度でない傾き角を有するので、観察距離の変化に対するスポットの位置変化の感度が高く、計測精度が高い。
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Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)