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1. (WO2018051530) DISPOSITIF DE TRAITEMENT PAR GRENAILLAGE
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N° de publication :    WO/2018/051530    N° de la demande internationale :    PCT/JP2017/005745
Date de publication : 22.03.2018 Date de dépôt international : 16.02.2017
CIB :
B24C 3/14 (2006.01), B24C 3/32 (2006.01), B24C 9/00 (2006.01)
Déposants : SINTOKOGIO, LTD. [JP/JP]; 28-12, Meieki 3-chome, Nakamura-ku, Nagoya-shi, Aichi 4506424 (JP)
Inventeurs : UMEMURA Mitugi; (JP)
Mandataire : HASEGAWA Yoshiki; (JP).
KUROKI Yoshiki; (JP).
OMORI Teppei; (JP)
Données relatives à la priorité :
2016-180948 15.09.2016 JP
Titre (EN) SHOT PROCESSING DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE TRAITEMENT PAR GRENAILLAGE
(JA) ショット処理装置
Abrégé : front page image
(EN)Provided is a shot processing device in which the work environment at the time of maintenance/inspection can be improved. A first projection device (24) that projects a projection material from obliquely below with respect to a transportation path is attached inside a cabinet (12) having an inspection opening closed by an inspection door, and the entirety of an impeller (24A) is arranged inside a projection chamber (14). A second projection device (26) that projects a projection material from a lateral side with respect to the transportation path and a third projection device (28) that projects a projection material from obliquely above with respect to the transportation path are attached to the outside of the cabinet (12) and respectively include a case (26D, 28D) having an interior in communication with a projection chamber (16, 18). The case (26D, 28D) houses an impeller (26A, 28A) facing the projection chamber (16, 18), and an inspection opening (26Y, 28Y) formed in the case (26D, 28D) so as to penetrate the same on the opposite side from the projection chamber (16, 18) is closed by a lid (26X, 28X).
(FR)Dispositif de traitement par grenaillage dans lequel l'environnement de travail au moment de l'entretien/inspection peut être amélioré. Un premier dispositif de projection (24) qui projette un matériau de projection depuis l'oblique par-dessous par rapport à un chemin de transport est fixé à l'intérieur d'un caisson (12) ayant une ouverture d'inspection fermée par une porte d'inspection, et la totalité d'une roue à hélices (24A) est disposée à l'intérieur d'une chambre de projection (14). Un deuxième dispositif de projection (26) qui projette un matériau de projection depuis un côté latéral par rapport au chemin de transport et un troisième dispositif de projection (28) qui projette un matériau de projection depuis l'oblique par-dessus par rapport au chemin de transport sont fixés à l'extérieur du caisson (12) et comprennent respectivement un boîtier (26D, 28D) ayant un intérieur en communication avec une chambre de projection (16, 18). Le boîtier (26D, 28D) loge une roue à hélices (26A, 28A) faisant face à la chambre de projection (16, 18), et une ouverture d'inspection (26Y, 28Y) formée dans le boîtier (26D, 28D) de manière à pénétrer dans celle-ci sur le côté opposé à la chambre de projection (16, 18) est fermée par un couvercle (26X, 28X).
(JA)保守点検時の作業環境を向上させることができるショット処理装置を得る。搬送経路に対して斜め下方側から投射材を投射する第一投射装置(24)は、点検用開口が点検扉によって閉塞されているキャビネット(12)の内側に取り付けられ、羽根車(24A)の全体が投射室(14)の内部に配置されている。搬送経路に対して側方側から投射材を投射する第二投射装置(26)及び搬送経路に対して斜め上方側から投射材を投射する第三投射装置(28)は、それぞれキャビネット(12)の外側に取り付けられて内部が投射室(16、18)と連通するケース(26D、28D)を備える。ケース(26D、28D)には、投射室(16、18)に臨む羽根車(26A、28A)が収容されると共に、ケース(26D、28D)において投射室(16、18)の側とは反対側に貫通形成された点検口(26Y、28Y)が蓋体(26X、28X)によって閉塞されている。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)