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1. (WO2018051514) DISPOSITIF D'OBSERVATION
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N° de publication : WO/2018/051514 N° de la demande internationale : PCT/JP2016/077571
Date de publication : 22.03.2018 Date de dépôt international : 16.09.2016
CIB :
G02B 21/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21
Microscopes
Déposants :
オリンパス株式会社 OLYMPUS CORPORATION [JP/JP]; 東京都八王子市石川町2951番地 2951 Ishikawa-machi, Hachioji-shi, Tokyo 1928507, JP
Inventeurs :
平田 唯史 HIRATA, Tadashi; JP
Mandataire :
上田 邦生 UEDA, Kunio; JP
柳 順一郎 YANAGI, Junichiro; JP
小栗 眞由美 OGURI, Mayumi; JP
竹内 邦彦 TAKEUCHI, Kuniyoshi; JP
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) OBSERVATION DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'OBSERVATION
(JA) 観察装置
Abrégé :
(EN) An observation device (100) comprises: a lighting unit (3) for irradiating a sample (A) supported by a stage (2) with illumination light; an imaging unit (4) including a plurality of objective optical systems (11) arranged in a row for collecting the illumination light passing through the sample (A) and a line sensor (13) disposed along the row of an optical image on the image plane of the plurality of objective optical systems (11); and a scanning mechanism (6) for relatively moving the stage (2) and the imaging unit (4) in a direction intersecting with the longitudinal direction of the line sensor (13). The sample (A) is irradiated with the illumination light obliquely relative to the optical axis in the plane parallel to the optical axis of the objective optical system (11), the illumination light having an angular distribution so that part of the illumination light incident on each objective optical system (11) is blocked by an aperture stop (AS).
(FR) Un dispositif d'observation (100) comprend : une unité d'éclairage (3) pour irradier un échantillon (A) supporté par un étage (2) avec une lumière d'éclairage; une unité d'imagerie (4) comprenant une pluralité de systèmes optiques d'objectif (11) agencés en une rangée pour collecter la lumière d'éclairage traversant l'échantillon (A) et un capteur de ligne (13) disposé le long de la rangée d'une image optique sur le plan d'image de la pluralité de systèmes optiques d'objectif (11); et un mécanisme de balayage (6) pour déplacer relativement l'étage (2) et l'unité d'imagerie (4) dans une direction croisant la direction longitudinale du capteur de ligne (13). L'échantillon (A) est irradié avec la lumière d'éclairage obliquement par rapport à l'axe optique dans le plan parallèle à l'axe optique du système optique d'objectif (11), la lumière d'éclairage ayant une distribution angulaire de telle sorte qu'une partie de la lumière d'éclairage incidente sur chaque système optique d'objectif (11) est bloquée par un arrêt d'ouverture.
(JA) 観察装置(100)は、ステージ(2)に支持された試料(A)に照明光を照射する照明部(3)と、一列に配列され試料(A)を透過した照明光を集光する複数の対物光学系(11)および該複数の対物光学系(11)の像面上に光学像の列に沿って配置されたラインセンサ(13)を有する撮像部(4)と、ステージ(2)および撮像部(4)をラインセンサ(13)の長手方向に交差する方向に相対移動させる走査機構(6)とを備え、照明光は、対物光学系(11)の光軸に平行な平面内において該光軸に対して斜めに試料(A)に照射され、各対物光学系(11)に入射した照明光の一部が開口絞り(AS)によって遮られる角度分布を有する。
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Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)