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1. (WO2018050972) DISPOSITIF OPTIQUE DE CARACTÉRISATION D'UN ÉCHANTILLON
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N° de publication : WO/2018/050972 N° de la demande internationale : PCT/FR2016/052352
Date de publication : 22.03.2018 Date de dépôt international : 16.09.2016
CIB :
G01N 21/47 (2006.01) ,G01B 11/30 (2006.01) ,G01N 21/59 (2006.01) ,G01N 21/85 (2006.01) ,G01N 21/88 (2006.01) ,G02B 5/28 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
47
Dispersion, c. à d. réflexion diffuse
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
30
pour mesurer la rugosité ou l'irrégularité des surfaces
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
59
Transmissivité
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84
Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
85
Analyse des fluides ou solides granulés en mouvement
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84
Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
88
Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
5
Eléments optiques autres que les lentilles
20
Filtres
28
Filtres d'interférence
Déposants : CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE[FR/FR]; 3 rue Michel Ange 75016 Paris, FR
UNIVERSITÉ D'AIX-MARSEILLE[FR/FR]; 58 Boulevard Charles Livon 13284 Marseille Cedex 7, FR
Inventeurs : ZERRAD, Myriam; FR
LEQUIME, Michel; FR
AMRA, Claude; FR
Mandataire : CROONENBROEK, Thomas; FR
COLOMBO, Michel; FR
GUERIN, Jean-Philippe; FR
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) OPTICAL DEVICE FOR CHARACTERISATION OF A SAMPLE
(FR) DISPOSITIF OPTIQUE DE CARACTÉRISATION D'UN ÉCHANTILLON
Abrégé :
(EN) The invention relates to an optical device for characterisation of a sample (3) comprising - a source (5) of parallel or collimated light, having an emission spectrum that is continuous over an observation wavelength range of at least 50 nm width, for illuminating the sample (3), - a detector (7) of light scattered by the sample (3), operating in said observation wavelength range, - a filter (9) for specific spectral weighting arranged on an optical path upstream of the detector (7) of the scattered light, and - a processing unit (11) for processing the measurement signal in order to extract a characterisation parameter of the sample (3).
(FR) L'invention concerne un dispositif optique de caractérisation d'un échantillon (3) comprenant - une source de lumière parallèle ou collimatée (5) ayant un spectre d'émission continue sur une plage d'observation en longueur d'onde d'au moins 50nm de largeur pour éclairer ledit échantillon (3), - un détecteur (7) de la lumière diffusée par l'échantillon (3), fonctionnant dans ladite plage d'observation en longueur d'onde, - un filtre de pondération spectrale (9) spécifique disposé sur le chemin optique en amont du détecteur (7) de la lumière diffusée, et - une unité de traitement (11) du signal de mesure pour extraire un paramètre de caractérisation de l'échantillon (3).
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : français (FR)
Langue de dépôt : français (FR)