Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter àObservations et contact
1. (WO2018049476) DÉTERMINATION DE VALEURS COMPLEXES D'INDICE DE RÉFRACTION D'UN ÉCHANTILLON DANS TROIS DIMENSIONS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2018/049476 N° de la demande internationale : PCT/AU2017/051001
Date de publication : 22.03.2018 Date de dépôt international : 14.09.2017
CIB :
G01N 21/41 (2006.01) ,G02B 21/36 (2006.01) ,G01N 21/23 (2006.01) ,G06T 11/00 (2006.01) ,G06T 15/00 (2011.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
41
Réfringence; Propriétés liées à la phase, p.ex. longueur du chemin optique
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21
Microscopes
36
aménagés pour la photographie ou la projection
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
21
Propriétés affectant la polarisation
23
Biréfringence
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
T
TRAITEMENT OU GÉNÉRATION DE DONNÉES D'IMAGE, EN GÉNÉRAL
11
Génération d'images bidimensionnelles [2D]
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
T
TRAITEMENT OU GÉNÉRATION DE DONNÉES D'IMAGE, EN GÉNÉRAL
15
Rendu d'images tridimensionnelles [3D]
Déposants :
LA TROBE UNIVERSITY [AU/AU]; La Trobe University Melbourne, Victoria 3086, AU
Inventeurs :
KOU, Shanshan; --
LIN, Jiao; --
Mandataire :
DAVIES COLLISON CAVE; 1 Nicholson Street Melbourne, Victoria 3000, AU
Données relatives à la priorité :
201690370315.09.2016AU
Titre (EN) DETERMINING COMPLEX REFRACTIVE INDEX VALUES OF A SAMPLE IN THREE DIMENSIONS
(FR) DÉTERMINATION DE VALEURS COMPLEXES D'INDICE DE RÉFRACTION D'UN ÉCHANTILLON DANS TROIS DIMENSIONS
Abrégé :
(EN) A method of determining refractive index values of a sample in three spatial dimensions, the method including accessing, by a computing device, phase data representing sets of spatial phase information of the sample, wherein the sets of spatial phase information correspond to two-dimensional (2D) projections of the sample from at least partially coherent radiation; processing, by a computing device, the phase data to generate frequency-domain data representing each set of spatial phase information mapped to a corresponding set of frequency-domain values on a spherical cap surface in the frequency domain to compensate for three-dimensional (3D) diffraction of the radiation from the sample; combining, by a computing device processing the frequency-domain data, the mapped sets of frequency-domain values to generate a combined set of frequency-domain values in which the spherical cap surfaces are mutually aligned; and processing, by a computing device, the combined set of frequency-domain values to generate refractive index data representing the refractive index values of the sample in the three spatial dimensions.
(FR) L'invention concerne un procédé de détermination de valeurs d'indice de réfraction d'un échantillon dans trois dimensions spatiales, le procédé incluant l'accès, par un dispositif informatique, à des données de phase représentant des ensembles d'informations de phase spatiales de l'échantillon, les ensembles d'informations de phase spatiales de l'échantillon correspondant à des projections bidimensionnelles (2D) de l'échantillon à partir d'un rayonnement au moins partiellement cohérent ; le traitement, par un dispositif informatique, des données de phase pour générer des données de domaine de fréquence représentant chaque ensemble d'informations de phase spatiale mappées à un ensemble correspondant de valeurs de domaine de fréquence sur une surface de calotte sphérique dans le domaine de fréquence pour compenser la diffraction tridimensionnelle (3D) du rayonnement provenant de l'échantillon ; la combinaison, par un dispositif informatique traitant les données de domaine de fréquence, des ensembles mappés de valeurs de domaine de fréquence pour générer un ensemble combiné de valeurs de domaine de fréquence dans lequel les surfaces de calotte sphérique sont mutuellement alignées ; et le traitement, par un dispositif informatique, de l'ensemble combiné de valeurs de domaine de fréquence pour générer des données d'indice de réfraction représentant les valeurs d'indice de réfraction de l'échantillon dans les trois dimensions spatiales.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)