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1. (WO2018048950) SURVEILLANCE DE QUALITÉ DE FIABILITÉ DYNAMIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication :    WO/2018/048950    N° de la demande internationale :    PCT/US2017/050343
Date de publication : 15.03.2018 Date de dépôt international : 06.09.2017
CIB :
G01R 31/28 (2006.01), G01R 31/308 (2006.01), G06F 17/18 (2006.01), G06F 17/40 (2006.01), G06F 17/50 (2006.01), H01L 21/66 (2006.01)
Déposants : ADVANCED MICRO DEVICES, INC. [US/US]; 2485 Augustine Drive Santa Clara, 95054 (US).
ATI TECHNOLOGIES ULC [CA/CA]; One Commerce Valley Drive East Markham, Ontario L3T 3X6 (CA)
Inventeurs : KOSONOCKY, Stephen V.; (US).
BURD, Thomas; (US).
CLARK, Adam; (CA).
HEWITT, Larry D.; (US).
FARICELLI, John Vincent; (US).
PETRY, John P.; (US)
Mandataire : RANKIN, Rory D; (US)
Données relatives à la priorité :
15/258,816 07.09.2016 US
Titre (EN) DYNAMIC RELIABILITY QUALITY MONITORING
(FR) SURVEILLANCE DE QUALITÉ DE FIABILITÉ DYNAMIQUE
Abrégé : front page image
(EN)A system and method for managing operating modes within a semiconductor chip for optimal power and performance while meeting a reliability target are described. A semiconductor chip includes a functional unit and a corresponding reliability monitor. The functional unit provides actual usage values to the reliability monitor. The reliability monitor determines expected usage values based on a reliability target and the age of the semiconductor chip. The reliability monitor compares the actual usage values and the expected usage values. The result of this comparison is used to increase or decrease current operational parameters.
(FR)L'invention concerne un système et un procédé de gestion de modes de fonctionnement dans une puce semi-conductrice pour obtenir une puissance et une performance optimales tout en satisfaisant une fiabilité cible. Une puce semi-conductrice comprend une unité fonctionnelle et un dispositif de surveillance de fiabilité correspondant. L'unité fonctionnelle fournit des valeurs d'utilisation réelles au dispositif de surveillance de fiabilité. Le dispositif de surveillance de fiabilité détermine des valeurs d'utilisation attendues sur la base d'une fiabilité cible et de l'âge de la puce semi-conductrice. Le dispositif de surveillance de fiabilité compare les valeurs d'utilisation réelles et les valeurs d'utilisation attendues. Le résultat de cette comparaison est utilisé pour augmenter ou réduire les paramètres de fonctionnement actuels.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)