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1. (WO2018047251) SYSTÈME D'ANALYSE DE DONNÉES, TERMINAL D'ANALYSE DE DONNÉES ET PROCÉDÉ D'ANALYSE DE DONNÉES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2018/047251 N° de la demande internationale : PCT/JP2016/076268
Date de publication : 15.03.2018 Date de dépôt international : 07.09.2016
CIB :
G06Q 10/06 (2012.01)
Déposants : HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION[JP/JP]; 24-14, Nishishimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717, JP
Inventeurs : EGI, Masashi; JP
KATURA, Takusige; JP
FUKUI, Daisuke; JP
YOSHIMURA, Mina; JP
Mandataire : WILLFORT INTERNATIONAL PATENT FIRM; Nihonbashi TC Bldg. 1F, 19-7, Nihonbashi Koamicho, Chuo-ku, Tokyo 1030016, JP
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) DATA ANALYSIS SYSTEM, DATA ANALYSIS TERMINAL AND DATA ANALYSIS METHOD
(FR) SYSTÈME D'ANALYSE DE DONNÉES, TERMINAL D'ANALYSE DE DONNÉES ET PROCÉDÉ D'ANALYSE DE DONNÉES
(JA) データ分析システム、データ分析端末、及び、データ分析方法
Abrégé : front page image
(EN) Provided is a data analysis method for: generating, on the basis of measurement information items including measurement data for each item pertaining to a sample, information on a plurality of recipes having different combinations of the items; applying each piece of recipe information to the measurement data; generating sample data corresponding to each piece of recipe information; determining, on the basis of the configuration of the sample data, a statistical testing means to be applied to the sample data; applying the determined statistical testing means to the sample data; calculating a test score indicating statistical significance pertaining to the recipe information used in the generation of the sample data; and associating the calculated test score and the recipe information pertaining to the test score and displaying the same.
(FR) L'invention concerne un procédé d'analyse de données comprenant les étapes consistant à : générer, sur la base d'éléments d'informations de mesure comprenant des données de mesure pour chaque élément relatif à un échantillon, des informations sur une pluralité de recettes comprenant des combinaisons différentes des éléments ; appliquer chaque composante d'informations de recette aux données de mesure ; générer des données d'échantillon correspondant à chaque composante d'informations de recette ; déterminer, sur la base de la configuration des données d'échantillon, un moyen d'essai statistique devant être appliqué aux données d'échantillon ; appliquer le moyen d'essai statistique déterminé aux données d'échantillon ; calculer une notation d'essai indiquant une signification statistique relative aux informations de recette utilisées dans la génération des données d'échantillon ; et associer la notation d'essai calculée et les informations de recette relatives à la notation d'essai et afficher celles-ci.
(JA) 標本に関する項目毎の測定データを含む測定情報の項目に基づいて、項目の組み合わせの異なる複数のレシピ情報を生成し、測定データに対して各レシピ情報を適用し、各レシピ情報に対応する標本データを生成し、標本データに適用する統計検定手法を当該標本データの構成に基づいて決定し、標本データに対してその決定した統計検定手法を適用し、その標本データの生成に用いられたレシピ情報に関する統計的有意性を示す検定スコアを算出し、その算出した検定スコアと当該検定スコアに関するレシピ情報とを対応付けて表示するデータ分析方法。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)