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1. (WO2018047165) SYSTÈME D'IMAGERIE 3D PAR MICROSCOPIE INTERFÉRENTIELLE
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N° de publication :    WO/2018/047165    N° de la demande internationale :    PCT/IL2017/050989
Date de publication : 15.03.2018 Date de dépôt international : 04.09.2017
CIB :
G01B 9/02 (2006.01), G02F 1/01 (2006.01)
Déposants : PHOTONICSYS LTD. [IL/IL]; P.O.Box 206, House number 54 9976100 Wahat Alsalam - Neveh Shalom (IL)
Inventeurs : ABDULHALIM, Ibrahim; (IL).
SAFRANI, Avner; (IL).
NEY, Michael; (IL)
Mandataire : PAPPER, Vladislav; (IL).
PAPPER, Vladislav; (IL)
Données relatives à la priorité :
15/260,398 09.09.2016 US
Titre (EN) INTERFERENCE MICROSCOPY 3D IMAGING SYSTEM
(FR) SYSTÈME D'IMAGERIE 3D PAR MICROSCOPIE INTERFÉRENTIELLE
Abrégé : front page image
(EN)In some embodiments, an interferometry microscopy system for generating high resolution 3D images in a single shot is described herein. The system is an ultra-high speed, real-time multi-wavelength phase-shift interference microscopy system that uses three synchronized color detectors, such as CCD cameras, CMOSs or arrays of photodiodes. Each detector is equipped with a precision achromatic phase mask which in turn allows obtaining π/2 phase shifted signals in two or more different wavelengths simultaneously, thereby allowing imaging samples with topographical variations larger than λ/2. The system uses proprietary software algorithms to compensate for non- idealities of the optical components (determined by an a priori calibration procedure) and extracts the object heights.
(FR)Certains modes de réalisation de l'invention concernent un système de microscopie interférométrique destiné à générer des images 3D à haute résolution en une seule prise de vue. Le système est un système de microscopie interférentielle à déphasage à longueurs d'onde multiples en temps réel et à vitesse ultra-rapide qui utilise trois détecteurs de couleur synchronisés, tels que des caméras CCD, des détecteurs CMOS ou des réseaux de photodiodes. Chaque détecteur est équipé d'un masque de phase achromatique de précision qui, à son tour, permet d'obtenir simultanément des signaux déphasés de π/2 dans deux longueurs d'onde différentes ou plus, ce qui permet de capturer des images d'échantillons ayant des variations topographiques supérieures à λ/2. Le système emploie des algorithmes logiciels propriétaires pour compenser le caractère non idéal des composants optiques (déterminé par une procédure d'étalonnage préalable) et extrait les hauteurs d'objet.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)