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1. (WO2018045472) ANALYSE D'OBJET DANS DES IMAGES À L'AIDE DE POTENTIELS ÉLECTRIQUES ET DE CHAMPS ÉLECTRIQUES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication :    WO/2018/045472    N° de la demande internationale :    PCT/CA2017/051062
Date de publication : 15.03.2018 Date de dépôt international : 08.09.2017
CIB :
G06T 7/60 (2017.01), G01B 7/28 (2006.01)
Déposants : POLYVALOR, LIMITED PARTNERSHIP [CA/CA]; 3, Place Ville-Marie Bureau 12350, niveau L #150 Montréal, Québec H3B 0E7 (CA)
Inventeurs : BEAINI, Dominique; (CA)
Mandataire : NORTON ROSE FULBRIGHT CANADA LLP/S.E.N.C.R.L., S.R.L.; Suite 2500 1 place Ville-Marie Montreal, Québec H3B 1R1 (CA)
Données relatives à la priorité :
62/384,794 08.09.2016 US
Titre (EN) OBJECT ANALYSIS IN IMAGES USING ELECTRIC POTENTIALS AND ELECTRIC FIELDS
(FR) ANALYSE D'OBJET DANS DES IMAGES À L'AIDE DE POTENTIELS ÉLECTRIQUES ET DE CHAMPS ÉLECTRIQUES
Abrégé : front page image
(EN)The present disclosure describes the use of electromagnetic (EM) potentials and fields in images for analyzing objects. Geometrical features may be detected based on electric and/or magnetic potentials and fields, and subsequently used for object grasping, defining contours, image segmentation, object detection, and the like.
(FR)La présente invention concerne l'utilisation de potentiels et de champs électromagnétiques (EM) dans des images pour analyser des objets. Des caractéristiques géométriques peuvent être détectées sur la base de potentiels et de champs électriques et/ou magnétiques, et être ensuite utilisées pour la saisie d'objet, la définition de contours, la segmentation d'image, la détection d'objet, et analogues.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)