WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2018044519) APPAREIL ET PROCÉDÉ DESTINÉS AU DÉBOGAGE ET AU DIAGNOSTIC DE SIGNAL ANALOGIQUE IN SITU COMPRENANT UN CONVERTISSEUR ANALOGIQUE-NUMÉRIQUE ÉTALONNÉ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2018/044519 N° de la demande internationale : PCT/US2017/046111
Date de publication : 08.03.2018 Date de dépôt international : 09.08.2017
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 : 30.04.2018
CIB :
G01R 31/316 (2006.01) ,H03M 1/10 (2006.01) ,H03M 1/12 (2006.01) ,G01R 31/3167 (2006.01)
Déposants : QUALCOMM INCORPORATED[US/US]; ATTN: International IP Administration 5775 Morehouse Drive San Diego, California 92121-1714, US
Inventeurs : SONG, Deqiang; US
KONG, Xiaohua; US
PANDITA, Bupesh; US
GAO, Zhuo; US
Mandataire : FOUNTAIN, George; US
Données relatives à la priorité :
15/251,86130.08.2016US
Titre (EN) APPARATUS AND METHOD FOR IN SITU ANALOG SIGNAL DIAGNOSTIC AND DEBUGGING WITH CALIBRATED ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER
(FR) APPAREIL ET PROCÉDÉ DESTINÉS AU DÉBOGAGE ET AU DIAGNOSTIC DE SIGNAL ANALOGIQUE IN SITU COMPRENANT UN CONVERTISSEUR ANALOGIQUE-NUMÉRIQUE ÉTALONNÉ
Abrégé : front page image
(EN) An integrated circuit (IC) chip includes an on-chip analog signal monitoring circuit for monitoring a set of analog signals generated by one or more mixed signal cores within the IC chip, converting the analog signals into digital signals, storing the digital signals in an on-chip memory, and providing the digital signals to a test equipment upon request. The analog signal monitoring signal includes an on-chip reference generator for generating precise voltages and/or currents, a switching network for routing a selected reference signal to an analog-to-digital converter (ADC) for calibration purpose and for routing a selected analog signal from one of the mixed signal cores to the ADC for digitizing purposes. The IC chip further includes an on-chip memory for storing the digitized analog signals for subsequent accessing by a test equipment for analysis. The IC chip includes a digital analog test point (ATP) for outputting the digitized analog signals.
(FR) La présente invention concerne une puce de circuit intégré (IC) qui comporte un circuit de surveillance de signal analogique sur puce pour surveiller un ensemble de signaux analogiques générés par au moins un cœur de signal mélangé à l'intérieur de la puce CI, convertir les signaux analogiques en signaux numériques, stocker les signaux numériques dans une mémoire sur puce, et fournir les signaux numériques à un équipement de test suite à la demande. Le signal de surveillance de signal analogique comporte un générateur de référence sur puce pour générer des courants et/ou des tensions précises, un réseau de commutation pour acheminer un signal de référence sélectionné à un convertisseur analogique-numérique (ADC) à des fins d'étalonnage et pour acheminer un signal analogique sélectionné à partir de l'un des cœurs de signal mélangés vers l'ADC à des fins de numérisation. La puce IC comporte en outre une mémoire sur puce pour stocker les signaux analogiques numérisés pour un accès ultérieur par un équipement d'essai pour analyse. La puce IC comporte un point de test analogique numérique (ATP) pour délivrer les signaux analogiques numérisés.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)