WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2018044500) SYSTÈME DE MESURE DE BRUIT DE PHASE PHOTONIQUE À TRÈS FAIBLE BRUIT DESTINÉ À UN SIGNAL MICRO-ONDE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication :    WO/2018/044500    N° de la demande internationale :    PCT/US2017/045450
Date de publication : 08.03.2018 Date de dépôt international : 04.08.2017
CIB :
G01R 29/26 (2006.01), G01R 31/28 (2006.01)
Déposants : IMRA AMERICA, INC. [US/US]; 1044 Woodridge Avenue Ann Arbor, MI 48105 (US)
Inventeurs : KUSE, Naoya; (US).
FERMANN, Martin, E.; (US)
Mandataire : ALTMAN, Daniel, E.; (US)
Données relatives à la priorité :
62/419,646 09.11.2016 US
62/382,609 01.09.2016 US
62/462,591 23.02.2017 US
Titre (EN) ULTRA LOW NOISE PHOTONIC PHASE NOISE MEASUREMENT SYSTEM FOR MICROWAVE SIGNAL
(FR) SYSTÈME DE MESURE DE BRUIT DE PHASE PHOTONIQUE À TRÈS FAIBLE BRUIT DESTINÉ À UN SIGNAL MICRO-ONDE
Abrégé : front page image
(EN)Systems and methods for precision phase noise measurements of radio frequency (RF) oscillators are provided. An RF signal under test can be modulated on a continuous wave (cw) laser carrier frequency via generation of modulation side-bands using an appropriate modulator. A photonic delay line can be implemented as a self-heterodyne detection system for the phase noise, allowing for photonic down-conversion of the phase noise measurement to direct current (DC). The self-heterodyne detection system allows detection outside of any 1/f noise issues. Ultra-low phase noise detection for RF frequencies in a range from below 1 GHz to beyond 100 GHz is enabled with a low noise floor in the whole frequency range. Higher-order modulation sidebands can further reduce the noise floor of the system. Ultra-low noise RF (microwave) output can be generated. The RF signal under test can be generated by a dielectric resonance oscillator or opto-electronic oscillator.
(FR)L'invention concerne des systèmes et des procédés de mesures de bruit de phase de précision d'oscillateurs radiofréquence (RF). Un signal RF en cours de test peut être modulé sur une fréquence porteuse laser à onde continue (cw) par génération des bandes latérales de modulation à l'aide d'un modulateur approprié. Une ligne de retard photonique peut être mise en œuvre sous la forme d'un système de détection auto-hétérodyne destiné au bruit de phase, permettant une conversion descendante photonique de la mesure de bruit de phase en courant continu (CC) Le système de détection auto-hétérodyne permet la détection à l'extérieur de tous problèmes de bruit 1/f. La détection de bruit de phase très faible destinée à des fréquences RF dans une plage allant d'au-dessous de 1 GHz à au-delà de 100 GHz est activée au moyen d'un plancher de bruit faible dans la plage de fréquences entière. Des bandes latérales de modulation d'ordre supérieur peuvent en outre réduire le plancher de bruit du système. Une sortie RF (micro-ondes) de bruit très faible peut être générée. Le signal RF en cours de test peut être généré par un oscillateur à résonance diélectrique ou un oscillateur opto-électronique.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)