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1. (WO2018044030) DISPOSITIF D'INSPECTION DE CARACTÉRISTIQUES OPTIQUES ET PROCÉDÉ D'INSPECTION DE CARACTÉRISTIQUES OPTIQUES
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N° de publication : WO/2018/044030 N° de la demande internationale : PCT/KR2017/009414
Date de publication : 08.03.2018 Date de dépôt international : 29.08.2017
CIB :
G01J 9/00 (2006.01) ,G02B 5/30 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
J
MESURE DE L'INTENSITÉ, DE LA VITESSE, DU SPECTRE, DE LA POLARISATION, DE LA PHASE OU DES CARACTÉRISTIQUES D'IMPULSIONS DE LUMIÈRE INFRAROUGE, VISIBLE OU ULTRAVIOLETTE; COLORIMÉTRIE; PYROMÉTRIE DES RADIATIONS
9
Mesure du déphasage des rayons lumineux; Recherche du degré de cohérence; Mesure de la longueur d'onde des rayons lumineux
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
5
Eléments optiques autres que les lentilles
30
Eléments polarisants
Déposants :
주식회사 엘지화학 LG CHEM, LTD. [KR/KR]; 서울시 영등포구 여의대로 128 128, Yeoui-daero, Yeongdeungpo-gu, Seoul 07336, KR
Inventeurs :
조민영 JO, Min Yeong; KR
박진용 PARK, Jin Yong; KR
박동민 PARK, Dong Min; KR
이원철 LEE, Won Chul; KR
정기준 JUNG, Ki Jun; KR
Mandataire :
특허법인 다나 DANA PATENT LAW FIRM; 서울시 강남구 역삼로 3길 11 광성빌딩 신관 5층 5th Floor, New Wing, Gwangsung Bldg., 11, Yeoksam-ro 3gil, Gangnam-gu, Seoul 06242, KR
Données relatives à la priorité :
10-2016-011291702.09.2016KR
Titre (EN) OPTICAL CHARACTERISTIC INSPECTOR AND OPTICAL CHARACTERISTIC INSPECTING METHOD
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION DE CARACTÉRISTIQUES OPTIQUES ET PROCÉDÉ D'INSPECTION DE CARACTÉRISTIQUES OPTIQUES
(KO) 광학 특성 검사기 및 광학 특성 검사 방법
Abrégé :
(EN) The present application relates to an optical characteristic inspector and an optical characteristic inspecting method. The present application provides an optical characteristic inspector requiring low device manufacturing cost and low maintenance cost, enables a phase difference inspection in plain-wise in a wide range through the optical characteristic inspector, and can provide an optical characteristic inspecting method having an improved efficiency in identifying a phase-lag axis.
(FR) La présente invention concerne un dispositif d'inspection de caractéristiques optiques et un procédé d'inspection de caractéristiques optiques. La présente invention concerne un dispositif d'inspection de caractéristiques optiques nécessitant un faible coût de fabrication de dispositif et un faible coût de maintenance, permet d'inspecter la différence de phase en clair dans une large plage grâce à l'inspecteur de caractéristique optique, et peut fournir un procédé d'inspection de caractéristiques optiques ayant une efficacité améliorée dans l'identification d'un axe de retard de phase.
(KO) 본 출원은 광학 특성 검사기 및 광학 특성 검사 방법에 관한 것으로, 본 출원의 광학 특성 검사기는, 장치 제작 및 유지비가 저렴하며, 상기 광학 특성 검사기를 통해 넓은 범위의 면 방향 위상차 검사가 가능하고, 위상지연 축 확인 효율이 향상된 광학 특성 검사 방법을 제공할 수 있다.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)