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1. (WO2018044014) DISPOSITIF D'ESSAI
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N° de publication : WO/2018/044014 N° de la demande internationale : PCT/KR2017/009375
Date de publication : 08.03.2018 Date de dépôt international : 28.08.2017
CIB :
G01R 1/04 (2006.01) ,G01R 3/00 (2006.01) ,G01R 31/28 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
1
Détails ou dispositions des appareils des types couverts par les groupes G01R5/-G01R13/125
02
Éléments structurels généraux
04
Boîtiers; Organes de support; Agencements des bornes
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
3
Appareils ou procédés spécialement adaptés à la fabrication des appareils de mesure
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28
Essai de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
Déposants :
LEENO INDUSTRIAL INC. [KR/KR]; 10 105 beon-gil, MieumSandan-ro Gangseo-gu Busan 46748, KR
Inventeurs :
SHIN, Jung-chul; KR
Mandataire :
HUH, Sung-Won; KR
SEO, Dong-heon; KR
LEE, Dong-uk; KR
Données relatives à la priorité :
10-2016-011266801.09.2016KR
Titre (EN) A TESTING DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ESSAI
Abrégé :
(EN) Disclosed is a testing device. The testing device includes a testing socket configured to support a plurality of probes, a testing-circuit substrate which includes a contact point to contact the probe, a slider which makes the testing socket be coupled to and separated from the testing-circuit substrate, and a slider operator which includes a main body arranged on the testing socket, and a slider pressing portion up/down-movably supported on the main body and moving down from the main body toward the slider so that the slider can slide along a surface direction of the testing socket.
(FR) L'invention concerne un dispositif d'essai. Le dispositif d'essai comprend une prise d'essai conçue pour porter une pluralité de sondes, un substrat de circuit d'essai qui comprend un point de contact permettant d'entrer en contact avec la sonde, un coulisseau qui amène la prise d'essai à être couplée au substrat de circuit d'essai et séparée de ce dernier, et un opérateur de curseur qui comprend un corps principal agencé sur la prise d'essai et une partie de pression de coulisseau portée de façon mobile vers le haut/bas sur le corps principal et se déplaçant vers le bas, du corps principal vers le coulisseau, de sorte que le coulisseau peut coulisser dans une direction de surface de la prise d'essai.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)