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1. (WO2018043869) APPAREIL DE SURVEILLANCE DE PROCESSUS DE FAÇONNAGE POUR IMPRIMANTE 3D ET IMPRIMANTE 3D LE COMPRENANT
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N° de publication : WO/2018/043869 N° de la demande internationale : PCT/KR2017/005130
Date de publication : 08.03.2018 Date de dépôt international : 17.05.2017
CIB :
B22F 3/105 (2006.01) ,G01N 21/88 (2006.01) ,G06T 7/00 (2006.01) ,B33Y 40/00 (2015.01) ,B29C 67/00 (2006.01) ,G02B 27/14 (2006.01) ,B33Y 10/00 (2015.01) ,B33Y 99/00 (2015.01)
B TECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
22
FONDERIE; MÉTALLURGIE DES POUDRES MÉTALLIQUES
F
TRAVAIL DES POUDRES MÉTALLIQUES; FABRICATION D'OBJETS À PARTIR DE POUDRES MÉTALLIQUES; FABRICATION DE POUDRES MÉTALLIQUES; APPAREILS OU DISPOSITIFS SPÉCIALEMENT ADAPTÉS AUX POUDRES MÉTALLIQUES
3
Fabrication de pièces ou d'objets à partir de poudres métalliques, caractérisée par le mode de compactage ou de frittage; Appareils spécialement conçus pour cette fabrication
10
Frittage seul
105
en utilisant un courant électrique, un rayonnement laser ou un plasma
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84
Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
88
Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
T
TRAITEMENT OU GÉNÉRATION DE DONNÉES D'IMAGE, EN GÉNÉRAL
7
Analyse d'image, p.ex. à partir d'un mappage binaire pour obtenir un mappage non binaire
[IPC code unknown for B33Y 40]
B TECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
29
TRAVAIL DES MATIÈRES PLASTIQUES; TRAVAIL DES SUBSTANCES À L'ÉTAT PLASTIQUE EN GÉNÉRAL
C
FAÇONNAGE OU ASSEMBLAGE DES MATIÈRES PLASTIQUES; FAÇONNAGE DES SUBSTANCES À L'ÉTAT PLASTIQUE EN GÉNÉRAL; POST-TRAITEMENT DES PRODUITS FAÇONNÉS, p.ex. RÉPARATION
67
Techniques de façonnage non couvertes par les groupes B29C39/-B29C65/106
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
27
Autres systèmes optiques; Autres appareils optiques
10
Systèmes divisant ou combinant des faisceaux
14
fonctionnant uniquement par réflexion
[IPC code unknown for B33Y 10][IPC code unknown for B33Y 99]
Déposants :
윈포시스 주식회사 WINFORSYS CO., LTD. [KR/KR]; 경기도 용인시 수지구 신수로 767, 에이동 24층(동천동, 분당수지유타워) (Dongcheon-dong, Bundang-Suji U-Tower) 24F, A-dong, 767, Sinsu-ro, Suji-gu, Yongin-si, Gyeonggi-do 16827, KR
Inventeurs :
조재형 CHO, Jae-Hyung; KR
이민 LEE, Min; KR
김명수 KIM, Myoung-Su; KR
지승용 JI, Seung-Yong; KR
최승묵 CHOI, Seung-Muk; KR
이지빈 LEE, Ji-Bin; KR
Mandataire :
특허법인청맥 C.M. PATENT & LAW FIRM. LLP; 서울시 강남구 테헤란로25길 39, 2층(역삼동, MK빌딩) (MK Bldg., Yeoksam-dong) 2F, 39, Teheran-ro 25-gil, Gangnam-gu, Seoul 06131, KR
Données relatives à la priorité :
10-2016-011180231.08.2016KR
10-2016-015610522.11.2016KR
10-2017-000561512.01.2017KR
10-2017-003552821.03.2017KR
Titre (EN) SHAPING PROCESS MONITORING APPARATUS OF THREE-DIMENSIONAL PRINTER AND THREE-DIMENSIONAL PRINTER COMPRISING SAME
(FR) APPAREIL DE SURVEILLANCE DE PROCESSUS DE FAÇONNAGE POUR IMPRIMANTE 3D ET IMPRIMANTE 3D LE COMPRENANT
(KO) 3차원 프린터의 성형 공정 감시 장치 및 이를 구비한 3차원 프린터
Abrégé :
(EN) The present invention relates to a shaping process monitoring apparatus. An embodiment of the present invention provides a shaping process monitoring apparatus of a three-dimensional printer with high precision for a measurement position, which is an apparatus for monitoring processes provided in an apparatus for processing a three-dimensional shaped product by using a raw material powder, the shaping process monitoring apparatus comprising: an optical information acquisition unit for acquiring information on light generated at a point where a raw material powder is shaped; a coordinate information transmission unit for transmitting coordinate information of a shaping point for processing a three-dimensional shaped product; and an image storage unit for receiving, from the coordinate information transmission unit, the coordinate information on the shaping point that has generated optical information acquired by the optical information acquisition unit to store the optical information and the coordinate information as images.
(FR) La présente invention concerne un appareil de surveillance de processus de façonnage. Un mode de réalisation de la présente invention concerne un appareil de surveillance de processus de façonnage pour imprimante 3D avec une précision élevée de position de mesure. Ledit appareil permet de surveiller des processus mis en œuvre dans un appareil pour traiter un produit façonné en 3D à partir d'une poudre de matière première, l'appareil de surveillance de processus de façonnage comprenant : une unité d'acquisition d'informations optiques chargée d'acquérir des informations sur la lumière générée au niveau d'un point où une poudre de matière première est façonnée ; une unité de transmission d'informations de coordonnées chargée de transmettre des informations de coordonnées relatives à un point de façonnage pour traiter un produit façonné en 3D ; et une unité de stockage d'image chargée de recevoir, à partir de l'unité de transmission d'informations de coordonnées, les informations de coordonnées relatives au point de façonnage qui a généré des informations optiques acquises par l'unité d'acquisition d'informations optiques, et de stocker les informations optiques et les informations de coordonnées en tant qu'images.
(KO) 본 발명은 성형 공정 감시 장치와 관련된다. 본 발명은 실시예로, 원재료 분말을 이용하여 3차원의 성형품을 가공하는 장치에 구비되어 공정을 감시하는 장치로서, 원재료 분말이 성형되는 지점에서 발생하는 빛에 대한 정보를 취득하는 광정보취득부, 상기 3차원의 성형품을 가공하기 위한 성형 지점의 좌표정보를 전송하는 좌표정보전송부 및 상기 광정보취득부에서 취득한 광정보를 생성시킨 성형 지점에 대한 좌표정보를 상기 좌표정보전송부로부터 전송받아 상기 광정보와 상기 좌표정보를 이미지로 만들어 저장하는 이미지저장부를 포함하여 측정위치에 대한 정밀도를 높인 3차원 프린터의 성형 공정 감시 장치를 제시한다.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)